Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Publication detail
PULEC, J. SZENDIUCH, I.
Original Title
Příspěvek k problematice termomechanického namáhání v mikroelektronických strukturách
English Title
Contribution to modeling of stressing microelectronic structures
Type
conference paper
Language
Czech
Original Abstract
Článek pojednává o modelování termomechanického namáhání v moderních mikroelektronických strukturách. Počítačové simulace jsou prováděny za využití výpočetního systému ANSYS, který je založen na metodě konečných prvků (FEM). Po simulaci byla získána data vyhodnocena a bylo provedeno porovnání získaných výsledků za účelem určení rozdílu mezi pnutím v různých částech modelované struktury a mezi různými strukturami.
English abstract
Topic of my article is modeling of thermomechanical stressing in modern microelectronic structures. Simulations are made using software ANSYS, which is based on Finite Element Method (FEM). Using this method, thermomechanical stressing in various structures was modeled. After simulations, data evaluation and comparison of yielded results was made to determine amplitudes and differences between stressing in various regions of modeled structure and between individual structures.
Keywords
ANSYS, namáhání , 3D struktury
Key words in English
ANSYS, Stressing, 3D Structures
Authors
PULEC, J.; SZENDIUCH, I.
RIV year
2011
Released
7. 1. 2011
Publisher
NOVPRESS
Location
BRNO
ISBN
978-80-214-4229-0
Book
MIKROSYN. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. (id 15937)
Edition
1
Edition number
Pages from
19
Pages to
24
Pages count
115
BibTex
@inproceedings{BUT34874, author="Jiří {Pulec} and Ivan {Szendiuch}", title="Příspěvek k problematice termomechanického namáhání v mikroelektronických strukturách", booktitle="MIKROSYN. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. (id 15937)", year="2011", series="1", number="1", pages="19--24", publisher="NOVPRESS", address="BRNO", isbn="978-80-214-4229-0" }