Detail předmětu

Spectroscopic Methods for Non-Destructive Diagnostics

FEKT-DKA-FY2Ak. rok: 2023/2024

Předmětem semináře jsou metody, zabývající se popisem, experimentálním sledováním a lokalizací poruch. Hlavní pojmy: transportní a stochastické procesy, nedestruktivní diagnostika, šumová diagnostika, částečné výboje, akustická emise, dielektrická relaxační spektroskopie, mikroskopické techniky, spektroskopie, luminiscence.

Jazyk výuky

angličtina

Počet kreditů

4

Zajišťuje ústav

Nabízen zahraničním studentům

Pouze domovské fakulty

Vstupní znalosti

VŠ studium v elektrotechnických, materiálových, fyzikálních a chemických oborech ukončené získáním titulu Ing. nebo ekvivalentním způsobem.

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

0-20 b projekt
0-80 b závěrečná zkouška

Učební cíle

Cílem předmětu je popis a analýza transportních, relaxačních a stochastických mechanismů v pevných látkách. Studenti se seznámí ze základními metodami studia těchto procesů a se základmíni metodami jejich měření. Obsahem semináře však není ani tak pouhé získání znalostí, jako spíše hlubší porozumění fyzikální podstatě vybraných metod a získání schopnosti prakticky tyto metody používat a dále je rozvíjet na vyšším stupni.
Po absolvování uvedeného kursu by studenti měli umět rozlišit jednotlivé typy transportních procesů, rozumět fyzikálním mechanismům fluktuačních procesů a nadbytečného transportu nosičů. Dále by měli mít přehled o základních diagnostických metodách a měli by umět pro studium konkrétního problému zvolit a použít vhodné diagnostické techniky. Na základě těchto nástrojů by studenti měli umět navrhovat a vyvíjet diagnostické metody pro jednotlivé konkrétní aplikace.

Základní literatura

Sze, S.M., NG, Kwok, K. Physics of Semiconductor Devices. 3rd edittion, Wiley, 2006. (EN)
Kittel, Ch.: Introduction to Solid State Physics. 7th ed. Wiley, 1996. (EN)
Réfrégier, P.: Noise Theory and Application to Physics. From Fluctuations to Information. Springer, 2004. (EN)
Leng, Y.: Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods. Wiley, 2009, ISBN 978-0-470-82299-9. (EN)
Workman, J., Springsteen, A.: Applied Spectroscopy – A Compact Reference for Practitioners, Elsevier Inc., 1998, ISBN 978-0-12-764070-9. (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program DKA-TLI doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DKA-TEE doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DKA-SEE doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DKA-MET doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DKA-KAM doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DKA-EKT doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Konzultace

39 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor