Detail předmětu

Diagnostika a bezpečné systémy

FIT-DBSAk. rok: 2009/2010

Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů. Metody generování testů. Strukturální testy. Funkční testy. Testování sekvenčních obvodů. Generování testů na úrovni HDL. Náhodné a pseudonáhodné generování testů. Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch. Komprese diagnostických dat. Návrh pro snadné testování, strukturované metody. Vestavěná diagnostika. Testování pamětí. Testování procesorů a kabeláže. Zabezpečení proti poruchám. Přístrojové vybavení pro diagnostiku. Verifikační přístupy.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

5

Garant předmětu

doc. Ing. Vladimír Drábek, CSc.

Zajišťuje ústav

Ústav počítačových systémů (UPSY)

Výsledky učení předmětu

Základní metody generování testů a návrhu pro snadné testování.

Prerekvizity

Nejsou žádné prerekvizity.

Způsob a kritéria hodnocení

Hodnocení studia je založeno na bodovacím systému. Pro úspěšné absolvování předmětu je nutno dosáhnout 50 bodů.

Absolvování polosemestrální zkoušky, laboratorních cvičení a vypracování projektu.

Osnovy výuky

  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
  • Lokalizační posloupnosti.
  • Slovníky poruch.
  • Komprese diagnostických dat.
  • Návrh pro snadné testování.
  • Vestavěná diagnostika.
  • Testování pamětí.
  • Testování procesorů, kabeláže.
  • Zabezpečení proti poruchám.
  • Principy odolnosti proti poruchám.
  • Přístrojové vybavení pro diagnostiku.

Učební cíle

Seznámit studenty s metodami generování testů logických obvodů, jejich minimalizace a komprese, a dále s metodikou navrhování snadno testovatelných obvodů.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Polosemestrální písemná zkouška, laboratorní cvičení a projekt.

Základní literatura

Abramovici, M. - Breuer, M.A. - Friedman, A.D.: Digital Systems Testing and Testable Design, Computer Science Press, 1990 Drábek, V.: Vlastnosti a použití binárních celulárních automatů, habilitační práce, Brno 1997

Doporučená literatura

Přednáškové texty v elektronické podobě.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program IT-MGR-2 magisterský navazující

    obor MBI , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MBS , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MGM , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MGM , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MIN , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MIN , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MIS , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MIS , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MMI , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MMM , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MPS , 2 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MPV , 0 ročník, zimní semestr, volitelný
    obor MSK , 0 ročník, zimní semestr, volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

39 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Vladimír Drábek, CSc.

Osnova

  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
  • Lokalizační posloupnosti.
  • Slovníky poruch.
  • Komprese diagnostických dat.
  • Návrh pro snadné testování.
  • Vestavěná diagnostika.
  • Testování pamětí.
  • Testování procesorů, kabeláže.
  • Zabezpečení proti poruchám.
  • Principy odolnosti proti poruchám.
  • Přístrojové vybavení pro diagnostiku.

Cvičení odborného základu

10 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Vladimír Drábek, CSc.

Osnova

  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.

Cvičení na počítači

8 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Vladimír Drábek, CSc.

Osnova

  • Sčítačka s vestavěnou diagnostikou.
  • Lineární posuvný registr se zpětnou vazbou.
  • Lineární celulární automat.
  • Hraniční testování.
  • Testování pamětí.

Projekt

8 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Vladimír Drábek, CSc.