Předmětem výzkumného záměru je aktuální problematika moderních mikroelektronických systémů a technologií s převažující orientací na výzkum a realizaci integrovaných obvodů a jejich aplikací. Zahrnuje jak systémový tak i fyzikální a technologický pohled na současnou mikroelektroniku a optoelektroniku včetně systémové a materiálové diagnostiky. Záměr, který v sobě soustřeďuje okruhy základního i aplikovaného výzkumu je rozdělen do následujících osmi základních oblastí: 1. Návrh integrovaných obvodů, 2. Diagnostika a testování integrovaných obvodů,3. Modelování a simulace integrovaných obvodů, 4. Montážní technologie, 5. Mikrosystémy, 6. Moderní obvodové principy pro integrované obvody, 7. Diagnostika materiálů a součástek, 8. Optoelektronické systémy.

Description in English
The subjects of the research plan are the topical problems of modern microelectronic systems and technologies with the major orientation to the research and realization of integrated circuits and their applications. The research plan comprises both the system and the technological views on the up-to-date microelectronics and optoelectronics including the system and material diagnostics. The research plan, which includes both fundamental and applied research topics, is divided into the following eight research areas: 1. Design of integrated circuits,2. Diagnostics and testing of integrated circuits, 3. Modelling and simulation of integrated circuits, 4. Mounting technologies, 5. Microsystems, 6. Modern circuit principles for integrated circuits, 7. Diagnostics of material and devices, 8. Optoelectronic systems.

MSM 262200022

Czech

Vrba Radimír, prof. Ing., CSc. - principal person responsible

Department of Microelectronics
- responsible department (1.1.1989 - not assigned)
Department of Microelectronics
- beneficiary (1.1.2002 - 31.12.2003)

ADÁMEK, M.; PRÁŠEK, J.; KREJČÍ, J. Testing of graphite paste properties for thick film sensors. In 26th International Spring Seminar on Electronics Technology: Integrated Management of Electronic Materials Production. 1. NEW YORK, NY 10017 USA: IEEE, 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA, 2003. p. 344-348. ISBN: 0-7803-8002-9.
Detail

SZENDIUCH I., MUSIL V., HUBÁLEK, J.: The 11th Electronic Devices and Systems Conference. Brno (09.09.2004)
Detail

Slovak University of Technology: APCOM 2004. Častá-Píla (16.06.2004)
Detail

Institute of Physics of Microstructures RAS: Scanning Probe Microscopy 2004. Nizhny Novgorod (02.05.2004)
Detail

SPIE Europe: Photonics Europe. Strasbourg (26.04.2004)
Detail

The 18th Forum of Science and Technology of Fluctuations. Tokyo (28.11.2003)
Detail

CO-MAT-TECH 2003. Trnava (16.10.2003)
Detail

ACSIN7 - Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, Nanostructures. Nara (16.11.2003)
Detail

Josef Sikula, Milada Bartlova, Pavel Hruska: NATO ARW Advanced experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices. Brno (15.08.2003)
Detail

Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod (02.03.2003)
Detail

TOMÁNEK, P.: Near Field optics and Related Techniques (NFO-7). Rochester (11.08.2002)
Detail

V. Hulínský, P. Tománek, J. Zemek: 3. seminář o metodách blízkého pole. Lázně Bohdaneč (25.09.2002)
Detail

TOMÁNEK, P.: Optics in computing. St. Petersburg (15.10.2002)
Detail

VŠCHT Praha, Fakulta technologie ochrany prostředí, Ústav chemie ochrany prostředí; Masarykova universita Brno, Přírodovědecká fakulta, Výzkumné centrum pro chemii životního prostředí a ekotoxikologii; Ostravská univerzita Ostrava, Přírodovědecká fakulta, Katedra biologie a ekologie; Vodní zdroje EKOMONITOR s.r.o.: Ekotoxikologické biotesty. Seč u Chrudimi (18.09.2002)
Detail

TOMÁNEK, P., TOMÁNEK, P.: Photonics Prague 2002 - 4th Int.Conf. on Photonics, Devices and Systems. Praha (26.05.2002)
Detail

Jaromír Hubálek Daniel Bečvář Jiří Stehlík; Krejčí Engineering, Tišnov: ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ. PV 2001-3227, patent. Brno (2001)
Detail

HYNČICA, O.; BRADÁČ, Z.; FIEDLER, P.; HRABEC, J.; HONZÍK, P.; KUČERA, P.: config; Configurator. ÚAMT BDSensors. URL: .... (software)
Detail

HYNČICA, O.; FIEDLER, P.; HRABEC, J.; BRADÁČ, Z.; KUČERA, P.; HONZÍK, P.: logger; Data Logger SW. ÚAMT BDSensors. URL: .... (software)
Detail

HYNČICA, O.; BRADÁČ, Z.; FIEDLER, P.; HONZÍK, P.; HRABEC, J.; KUČERA, P.: sensor-enddevice; Sensor SW. ÚAMT BDSensors. URL: .... (software)
Detail

HYNČICA, O.; BRADÁČ, Z.; FIEDLER, P.: gateway; Ethernet Gateway SW. ÚAMT BDSensors. URL: .... (software)
Detail

Responsibility: Vrba Radimír, prof. Ing., CSc.