Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - COST

- whole funder (2000-01-01 - 2004-12-31)

OC 523.40

Czech

Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - fellow researcher
Tománek Pavel, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible

Department of Physics
- beneficiary (2001-01-01 - 2004-12-31)

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., LIŠKA, M. Influence of the sample coating and the shape of the probe on the resolution in Scanning Near-Field Optical Microscopy. In CO-MAT-TECH 2000, 8. Medzinárodná vedecká konferencia, sv.4. Bratislava: Slovenská technická univerzita v Bratislave, 2000. p. 85 - 90 ( p.)ISBN: 80-227-1413-5.
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu. In Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. s. 327 ( s.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

TOMÁNEK, P. Optical nanometrology. In Electronic properties of molecular materials and functional polymers. Brno: Brno University of Technology, Faculty of Chemistry, 2001. p. 143 ( p.)ISBN: 80-214-1893-1.
Detail

TOMÁNEK, P. Nanotechnologie, nanoelektronika a optická nanometrologie. In 20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT v Brně. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2000. s. 68 ( s.)ISBN: 80-214-1781-1.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. A simplified local surface photoreflectance measurement. In Proceedings of Materials structure and micromechanics fracture. Brno: VUTIUM, 2001. p. 439 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.
Detail

DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic noise and detectivity of CdHgTe detectors. In Electronic Devices and Systems. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2001. p. 57 ( p.)ISBN: 80-214-1960-1.
Detail

GRMELA, L., LÉTAL, P., TOMÁNEK, P. Near-field photocurrent spectra in DQW-GRIN laser diodes. In Electronic Devices and Systems, EDS'Y2K. Brno: VUT v Brně, 2001. p. 213 ( p.)ISBN: 80-214-1780-1.
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Measurement of local photoluminescence and optically induced photocurrent in semiconductor structures. In Photonics Prague 2002. Praha: Tech-Market,Praha, 2002. p. 146-146. ISBN: 80-86114-46-5.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Local Photoluminiscence on Quantum Dots. In Student EEICT 2002. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., 2002. p. 229 ( p.)ISBN: 80-214-2115-0.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., TOMÁNEK, P., UHDEOVÁ, N. Photoluminiscence scanning near-field optical microscopy in GaAlAs/GaAs quantum wells. In Photonics Prague 2002. Praha: Techmarket, 2002. p. 148 ( p.)ISBN: 80-86114-46-5.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Lokální spektroskopie luminiscence polovodičových struktur. In Metody blízkého pole. Československý časopis pro fyziku. Praha: Spektroskopická společnost Jana Marca Marci, 2002. s. 37 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D. Nanometric applications of the Scanning Near-field Optical Microscopy. In NANO´02. Brno: Akademické nakladatelství, CERM, 2002. p. 53-53. ISBN: 80-7204-258-0.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L. Spectral measurements of semiconductor structures using optical near-field approach. In Joint COST-Action workgroup meeting on individual and assembled nanoparticles and quantum dots. Leuven, Belgie: KU Leuven, COST 523, 2002. p. P55 ( p.)
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Digital imaging processing in scaning probe microscopy. In Nové trendy ve fyzice (New trends in physics). Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. p. 375 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L. Digital imaging and image resolution in scanning probe microscopy. In CO-MAT-TECH 2001. Trnava: STU Bratislava, 2001. p. 273 ( p.)ISBN: 80-224-1591-3.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P. Near-field photoluminescence as high resolution diagnostics of semiconductor structures. In Proceedings of Materials structure and micromechanics of fracture. Brno: VUTIUM, 2001. p. 439 ( p.)ISBN: 80-24-14-1892-3.
Detail

TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Near-field optical microscopy diagnostics. In From quantum optics to photonics. Warszaw: Faculty of Physics, Warszaw University, 2001. p. 90 ( p.)ISBN: 83-913171-4-5.
Detail

LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near field optical beam induced current measurements on heterostructures. In Nové trendy ve fyzice (New trends in Physics). sv.2. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. p. 387 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P. Near field photoluminescence and photoreflectance measurements of semiconductor structures. In Nanomaterials: Fundamentals and applications. Limerick: MSSI, 2001. p. 59 ( p.)
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. The basic concepts of near field optics. In CO-MAT-TECH 2001. sv.2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. p. 223 ( p.)ISBN: 80-227-1591-3.
Detail

BENEŠOVÁ, M., LIŠKA, M. Influence of the sample coating and the shape of the probe on the resolution in Scanning Near-Field Optical Microscopy. In CO-MAT-TECH 2000. svazek 4. Trnava: STU Bratislava, 2000. p. 85 ( p.)ISBN: 80-227-1413-5.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., UHDEOVÁ, N. Nanometric applications of the Scanning Near-field optical microscopy. In Proceedings of the National Conference NANO´02. Brno: Česká společnost pro nové materiály a technologie, 2003. p. 166 ( p.)ISBN: 80-7329-027-8.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., KAWATA, S. Near-field optical imaging of carrier dynamics in silicon with superresolution. In Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod, Russia: Institute for Physics of microstructures RAS, 2003. p. 63-65.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Singular Spectral Index Method for the Analysis of the Rib Waveguide. In Measurement 2003. Bratislava: 2003. p. 395 ( p.)ISBN: 80-967402-6-1.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., GRMELA, L. Near field scanning optical microscopy as an imaging tool for carrier process in silicon. In Advanced engineering design. Praha: Process Engineering Publisher, 2003. p. F1.3 (F1.7 p.)ISBN: 80-86059-35-9.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Local optical imaging of electronic characteristics in semiconductors. In Noise and fluctuation ICNF 2003. Brno: 2003. p. 445 ( p.)ISBN: 80-239-1005-1.
Detail

LÉTAL, P. Microfabrication of the local probes for Scanning Near-field optical microscopy. In Student EEICT 2002. Brno: 2002. p. 229 ( p.)ISBN: 80-214-2115-0.
Detail

LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near-field photocurrent spectroscopy: superresolving method for inspection of semiconductor interfaces. In 8th CO-MAT-TECH 2000. Trnava: 2000. p. 141 ( p.)ISBN: 80-227-1413-5.
Detail

LÉTAL, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Locally resolved topography and spectroscopy of semiconductors (with lateral resolution better than of 250 nm). In Proc. of 5th Int.Conf. Electronic devices and systems 1998. Brno: 1998. p. 173 ( p.)ISBN: 80-214-1198-8.
Detail

DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices. In The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference. Neuveden. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2003. p. 287 ( p.)ISBN: 80-2142452-4.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. 1/f Noise in InAs/GaAs Quantum Dots and InGaAs/GaAs/InGaP Quantum Well LEDs and in quantum well laser diodes. In CO-MAT-TECH 2003, 11th International scientific conference. Bratislava: MtF STU Trnava, 2003. p. 1063 ( p.)ISBN: 80-277-1949-8.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. In Proceedings of International conference Nano´03. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, 2003. p. 201 ( p.)ISBN: 80-214-2527-X.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Comparison of low-frequency noise and near-field optical spectroscopy of GaAs/AlGaAs single-quantum-well laser diodes. In Atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures. Nara, Japan: Japan society of applied physics, 2003. p. 431 ( p.)
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Local Half Space Radiation Mode Analysis of Waveguides Buried at Realistic Depth. In Student EEICT 2003. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., 2003. p. 470 ( p.)ISBN: 80-214-2379-X.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D.; TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Local characterization of optical waveguide structure using Scanning near-field optical microscopy. In Applied physics on condensed matter APCOM – 2004. Bratislava: Slovak Technical University in Bratislava, 2004. p. 183-186. ISBN: 80-227-2073-9.
Detail

TOMÁNEK, P. Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 28 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

LÉTAL, P., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Studium lokálních charakteristik fotoproudu v blízkém poli. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 69 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; LÉTAL, P. Local optical characteristics of semiconductor surfaces. Proceedings of SPIE, 2002, vol. 4607, no. 2, p. 168-177. ISSN: 0277-786X.
Detail

TOMÁNEK, P. Konference "Nové trendy ve fyzice". 2002, roč. 47, č. 1, s. 27 ( s.)ISSN: 0447-6411.
Detail

GRMELA, L. Experimentální metody nedestruktivního testování elektronických součástek a materiálů. Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy, 2002, roč. 2002, č. sv. 90, s. 1 ( s.)ISSN: 1213-418X.
Detail

BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; TOMÁNEK, P.; UHDEOVÁ, N. Local measurement of optically induced photocurrent in semiconductor structures. Proceedings of SPIE, 2003, vol. 5036, no. 5036, p. 635-639. ISSN: 0277-786X.
Detail

TOMÁNEK, P. Krása evanescentních vln. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 75-78. ISSN: 0009-0700.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; KAWATA, S. Near-field optical diagnostics of carrier dynamics in semiconductor with superresolution. Physics of low-dimensional structures, 2003, vol. 2003, no. 3/4, p. 131-137. ISSN: 0204-3467.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Photoluminescence scanning near-field optical microscopy in GaAlAs/GaAs quantum wells. Proceedings of SPIE, 2003, vol. 5036, no. 5036, p. 640-644. ISSN: 0277-786X.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu. 2004, roč. 49, č. 9, s. 245 ( s.)ISSN: 0447-6411.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; DOBIS, P. Scanning near-field optical microscopy in semiconductor research. Physics of low-dimensional structures, 2004, vol. 2004, no. 1/2, p. 47-53. ISSN: 0204-3467.
Detail

Dana Otevřelová. Lokální spektroskopie luminiscence polovodičových struktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 117 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

TOMÁNEK, P. Optická tunelová mikroskopie s lokální sondou. In Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. neuvedeno. Praha: Academia, Praha 2, 2002. s. 349 ( s.)ISBN: 80-200-0594-3.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury: Optické a elektrické vlastnosti. Nanostruktury: optické a elektrické vlastnosti. 523.40/2000. Brno: MŠMT, 2001.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury: optické a elektrické vlastnosti. Brno: MŠMT - COST 523.40, 2003. s. 1 ( s.)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury: Optické a elektrické vlastnosti, COST 523.40. Nanostruktury: optické a elektrické vlastnosti. neuvedeno. Brno: MSMT, OC 523.40/2002, 2002.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury - optické a elektrické vlastnosti (Projekt COST 523.40). Brno: MŠMT: COST 523.40, 2004. s. 1 ( s.)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Local optical phenomena in InAs/GaAs heterostructures with doped quantum dots and artificial molecules (Seoul, Korea). The 8th International Conference on Near-field Nano Optics and Related Techniques (NFO-8). Seoul, Korea: Seoul National University, 2004. p. 248 ( p.)
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´03. Brno: 2003. p. 51 ( p.)ISBN: 80-214-2486-9.
Detail

TOMÁNEK, P. Nanotechnologie a optická nanometrologie. Habilitační a inaugurační spisy, sv. 24. Habilitační a inaugurační spisy, sv. 24. Brno: VUTIUM, 2000. 21 s. ISBN: 80-214-1589-4.
Detail

HRABOVSKÝ, M., SENDERÁKOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Photonics, Devices, and Systems II. Photonics, Devices, and Systems II. Neuveden. Bellingham, WA, USA: 2003. p. 1 ( p.)ISBN: 0-8194-4837-0.
Detail

TOMÁNEK, P. Úvodník. Československý časopis pro fyziku. 2003. s. 67 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

TOMÁNEK, P., TOMÁNKOVÁ, K.: CO-MAT-TECH 2001. Trnava, Slovensko (25.10.2001)
Detail

CO-MAT-TECH 2003. Trnava (16.10.2003)
Detail

TOMÁNEK, P.: From Quantum Optics to Photonics. Zakopane (28.06.2001)
Detail

TOMÁNEK, P.: Rastrovací tunelová mikroskopie, spektroskopie a příbuzné techniky (2000). Lázně Bohdaneč (25.09.2000)
Detail

CO-MAT-TECH 2000. Trnava (19.10.2000)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., UHDEOVÁ, N.: International conference on Nanometrology, scanning probe microscopy and related techniques "NANO'94". Brno (29.08.1994)
Detail

Physics and Chemistry of Molecular Systems. Brno (06.12.2000)
Detail

TOMÁNEK, P.: Optics in computing. St. Petersburg (15.10.2002)
Detail

V. Hulínský, P. Tománek, J. Zemek: 3. seminář o metodách blízkého pole. Lázně Bohdaneč (25.09.2002)
Detail

TOMÁNEK, P.: Near Field optics and Related Techniques (NFO-7). Rochester (11.08.2002)
Detail

Slovak University of Technology: APCOM 2004. Častá-Píla (16.06.2004)
Detail

TOMÁNEK, P., TOMÁNEK, P.: Photonics Prague 2002 - 4th Int.Conf. on Photonics, Devices and Systems. Praha (26.05.2002)
Detail

IANQ. Leuven (25.04.2002)
Detail

Measurement 2003. Smolenice (15.06.2003)
Detail

ACSIN7 - Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, Nanostructures. Nara (16.11.2003)
Detail

BRÜSTLOVÁ, J., BARTLOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P.: Nové trendy ve fyzice. Brno, FEI VUT (15.11.2001)
Detail