Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 01.01.2000 — 31.12.2004
Funding resources
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - COST
- whole funder (2000-01-01 - 2004-12-31)
On the project
Studium a experimentální ověření lokalizace nanostruktur.
Description in EnglishStudy and experimental verification of nanostructures.
Keywordsnanostructures, optical properties, electronic properties, local characterization
Mark
OC 523.40
Default language
Czech
People responsible
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - fellow researcherTománek Pavel, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible
Units
Department of Physics- (2001-01-01 - 2004-12-31)
Results
BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., LIŠKA, M. Influence of the sample coating and the shape of the probe on the resolution in Scanning Near-Field Optical Microscopy. In CO-MAT-TECH 2000, 8. Medzinárodná vedecká konferencia, sv.4. Bratislava: Slovenská technická univerzita v Bratislave, 2000. p. 85 - 90 ( p.)ISBN: 80-227-1413-5.Detail
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu. In Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. s. 327 ( s.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
TOMÁNEK, P. Optical nanometrology. In Electronic properties of molecular materials and functional polymers. Brno: Brno University of Technology, Faculty of Chemistry, 2001. p. 143 ( p.)ISBN: 80-214-1893-1.Detail
TOMÁNEK, P. Nanotechnologie, nanoelektronika a optická nanometrologie. In 20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT v Brně. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2000. s. 68 ( s.)ISBN: 80-214-1781-1.Detail
BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. A simplified local surface photoreflectance measurement. In Proceedings of Materials structure and micromechanics fracture. Brno: VUTIUM, 2001. p. 439 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.Detail
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic noise and detectivity of CdHgTe detectors. In Electronic Devices and Systems. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2001. p. 57 ( p.)ISBN: 80-214-1960-1.Detail
GRMELA, L., LÉTAL, P., TOMÁNEK, P. Near-field photocurrent spectra in DQW-GRIN laser diodes. In Electronic Devices and Systems, EDS'Y2K. Brno: VUT v Brně, 2001. p. 213 ( p.)ISBN: 80-214-1780-1.Detail
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Measurement of local photoluminescence and optically induced photocurrent in semiconductor structures. In Photonics Prague 2002. Praha: Tech-Market,Praha, 2002. p. 146-146. ISBN: 80-86114-46-5.Detail
OTEVŘELOVÁ, D. Local Photoluminiscence on Quantum Dots. In Student EEICT 2002. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., 2002. p. 229 ( p.)ISBN: 80-214-2115-0.Detail
OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., TOMÁNEK, P., UHDEOVÁ, N. Photoluminiscence scanning near-field optical microscopy in GaAlAs/GaAs quantum wells. In Photonics Prague 2002. Praha: Techmarket, 2002. p. 148 ( p.)ISBN: 80-86114-46-5.Detail
OTEVŘELOVÁ, D. Lokální spektroskopie luminiscence polovodičových struktur. In Metody blízkého pole. Československý časopis pro fyziku. Praha: Spektroskopická společnost Jana Marca Marci, 2002. s. 37 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D. Nanometric applications of the Scanning Near-field Optical Microscopy. In NANO´02. Brno: Akademické nakladatelství, CERM, 2002. p. 53-53. ISBN: 80-7204-258-0.Detail
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L. Spectral measurements of semiconductor structures using optical near-field approach. In Joint COST-Action workgroup meeting on individual and assembled nanoparticles and quantum dots. Leuven, Belgie: KU Leuven, COST 523, 2002. p. P55 ( p.)Detail
OTEVŘELOVÁ, D. Digital imaging processing in scaning probe microscopy. In Nové trendy ve fyzice (New trends in physics). Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. p. 375 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L. Digital imaging and image resolution in scanning probe microscopy. In CO-MAT-TECH 2001. Trnava: STU Bratislava, 2001. p. 273 ( p.)ISBN: 80-224-1591-3.Detail
OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P. Near-field photoluminescence as high resolution diagnostics of semiconductor structures. In Proceedings of Materials structure and micromechanics of fracture. Brno: VUTIUM, 2001. p. 439 ( p.)ISBN: 80-24-14-1892-3.Detail
TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Near-field optical microscopy diagnostics. In From quantum optics to photonics. Warszaw: Faculty of Physics, Warszaw University, 2001. p. 90 ( p.)ISBN: 83-913171-4-5.Detail
LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near field optical beam induced current measurements on heterostructures. In Nové trendy ve fyzice (New trends in Physics). sv.2. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. p. 387 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P. Near field photoluminescence and photoreflectance measurements of semiconductor structures. In Nanomaterials: Fundamentals and applications. Limerick: MSSI, 2001. p. 59 ( p.)Detail
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. The basic concepts of near field optics. In CO-MAT-TECH 2001. sv.2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. p. 223 ( p.)ISBN: 80-227-1591-3.Detail
BENEŠOVÁ, M., LIŠKA, M. Influence of the sample coating and the shape of the probe on the resolution in Scanning Near-Field Optical Microscopy. In CO-MAT-TECH 2000. svazek 4. Trnava: STU Bratislava, 2000. p. 85 ( p.)ISBN: 80-227-1413-5.Detail
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., UHDEOVÁ, N. Nanometric applications of the Scanning Near-field optical microscopy. In Proceedings of the National Conference NANO´02. Brno: Česká společnost pro nové materiály a technologie, 2003. p. 166 ( p.)ISBN: 80-7329-027-8.Detail
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., KAWATA, S. Near-field optical imaging of carrier dynamics in silicon with superresolution. In Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod, Russia: Institute for Physics of microstructures RAS, 2003. p. 63-65.Detail
OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Singular Spectral Index Method for the Analysis of the Rib Waveguide. In Measurement 2003. Bratislava: 2003. p. 395 ( p.)ISBN: 80-967402-6-1.Detail
BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., GRMELA, L. Near field scanning optical microscopy as an imaging tool for carrier process in silicon. In Advanced engineering design. Praha: Process Engineering Publisher, 2003. p. F1.3 (F1.7 p.)ISBN: 80-86059-35-9.Detail
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Local optical imaging of electronic characteristics in semiconductors. In Noise and fluctuation ICNF 2003. Brno: 2003. p. 445 ( p.)ISBN: 80-239-1005-1.Detail
LÉTAL, P. Microfabrication of the local probes for Scanning Near-field optical microscopy. In Student EEICT 2002. Brno: 2002. p. 229 ( p.)ISBN: 80-214-2115-0.Detail
LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near-field photocurrent spectroscopy: superresolving method for inspection of semiconductor interfaces. In 8th CO-MAT-TECH 2000. Trnava: 2000. p. 141 ( p.)ISBN: 80-227-1413-5.Detail
LÉTAL, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Locally resolved topography and spectroscopy of semiconductors (with lateral resolution better than of 250 nm). In Proc. of 5th Int.Conf. Electronic devices and systems 1998. Brno: 1998. p. 173 ( p.)ISBN: 80-214-1198-8.Detail
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices. In The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference. Neuveden. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2003. p. 287 ( p.)ISBN: 80-2142452-4.Detail
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. 1/f Noise in InAs/GaAs Quantum Dots and InGaAs/GaAs/InGaP Quantum Well LEDs and in quantum well laser diodes. In CO-MAT-TECH 2003, 11th International scientific conference. Bratislava: MtF STU Trnava, 2003. p. 1063 ( p.)ISBN: 80-277-1949-8.Detail
BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. In Proceedings of International conference Nano´03. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, 2003. p. 201 ( p.)ISBN: 80-214-2527-X.Detail
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Comparison of low-frequency noise and near-field optical spectroscopy of GaAs/AlGaAs single-quantum-well laser diodes. In Atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures. Nara, Japan: Japan society of applied physics, 2003. p. 431 ( p.)Detail
OTEVŘELOVÁ, D. Local Half Space Radiation Mode Analysis of Waveguides Buried at Realistic Depth. In Student EEICT 2003. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., 2003. p. 470 ( p.)ISBN: 80-214-2379-X.Detail
OTEVŘELOVÁ, D.; TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Local characterization of optical waveguide structure using Scanning near-field optical microscopy. In Applied physics on condensed matter APCOM – 2004. Bratislava: Slovak Technical University in Bratislava, 2004. p. 183-186. ISBN: 80-227-2073-9.Detail
TOMÁNEK, P. Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 28 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
LÉTAL, P., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Studium lokálních charakteristik fotoproudu v blízkém poli. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 69 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; LÉTAL, P. Local optical characteristics of semiconductor surfaces. Proceedings of SPIE, 2002, vol. 4607, no. 2, p. 168-177. ISSN: 0277-786X.Detail
TOMÁNEK, P. Konference "Nové trendy ve fyzice". 2002, roč. 47, č. 1, s. 27 ( s.)ISSN: 0447-6411.Detail
GRMELA, L. Experimentální metody nedestruktivního testování elektronických součástek a materiálů. Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy, 2002, roč. 2002, č. sv. 90, s. 1 ( s.)ISSN: 1213-418X.Detail
BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; TOMÁNEK, P.; UHDEOVÁ, N. Local measurement of optically induced photocurrent in semiconductor structures. Proceedings of SPIE, 2003, vol. 5036, no. 5036, p. 635-639. ISSN: 0277-786X.Detail
TOMÁNEK, P. Krása evanescentních vln. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 75-78. ISSN: 0009-0700.Detail
TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; KAWATA, S. Near-field optical diagnostics of carrier dynamics in semiconductor with superresolution. Physics of low-dimensional structures, 2003, vol. 2003, no. 3/4, p. 131-137. ISSN: 0204-3467.Detail
OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Photoluminescence scanning near-field optical microscopy in GaAlAs/GaAs quantum wells. Proceedings of SPIE, 2003, vol. 5036, no. 5036, p. 640-644. ISSN: 0277-786X.Detail
OTEVŘELOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu. 2004, roč. 49, č. 9, s. 245 ( s.)ISSN: 0447-6411.Detail
TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; DOBIS, P. Scanning near-field optical microscopy in semiconductor research. Physics of low-dimensional structures, 2004, vol. 2004, no. 1/2, p. 47-53. ISSN: 0204-3467.Detail
Dana Otevřelová. Lokální spektroskopie luminiscence polovodičových struktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 117 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
TOMÁNEK, P. Optická tunelová mikroskopie s lokální sondou. In Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. neuvedeno. Praha: Academia, Praha 2, 2002. s. 349 ( s.)ISBN: 80-200-0594-3.Detail
TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury: Optické a elektrické vlastnosti. Nanostruktury: optické a elektrické vlastnosti. 523.40/2000. Brno: MŠMT, 2001.Detail
TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury: optické a elektrické vlastnosti. Brno: MŠMT - COST 523.40, 2003. s. 1 ( s.)Detail
TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury: Optické a elektrické vlastnosti, COST 523.40. Nanostruktury: optické a elektrické vlastnosti. neuvedeno. Brno: MSMT, OC 523.40/2002, 2002.Detail
TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Nanostruktury - optické a elektrické vlastnosti (Projekt COST 523.40). Brno: MŠMT: COST 523.40, 2004. s. 1 ( s.)Detail
TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Local optical phenomena in InAs/GaAs heterostructures with doped quantum dots and artificial molecules (Seoul, Korea). The 8th International Conference on Near-field Nano Optics and Related Techniques (NFO-8). Seoul, Korea: Seoul National University, 2004. p. 248 ( p.)Detail
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´03. Brno: 2003. p. 51 ( p.)ISBN: 80-214-2486-9.Detail
TOMÁNEK, P. Nanotechnologie a optická nanometrologie. Habilitační a inaugurační spisy, sv. 24. Habilitační a inaugurační spisy, sv. 24. Brno: VUTIUM, 2000. 21 s. ISBN: 80-214-1589-4.Detail
HRABOVSKÝ, M., SENDERÁKOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Photonics, Devices, and Systems II. Photonics, Devices, and Systems II. Neuveden. Bellingham, WA, USA: 2003. p. 1 ( p.)ISBN: 0-8194-4837-0.Detail
TOMÁNEK, P. Úvodník. Československý časopis pro fyziku. 2003. s. 67 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
TOMÁNEK, P., TOMÁNKOVÁ, K.: CO-MAT-TECH 2001. Trnava, Slovensko (25.10.2001)Detail
Slovak University of Technology: APCOM 2004. Častá-Píla (16.06.2004)Detail
TOMÁNEK, P.: From Quantum Optics to Photonics. Zakopane (28.06.2001)Detail
TOMÁNEK, P.: Rastrovací tunelová mikroskopie, spektroskopie a příbuzné techniky (2000). Lázně Bohdaneč (25.09.2000)Detail
CO-MAT-TECH 2000. Trnava (19.10.2000)Detail
TOMÁNEK, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., UHDEOVÁ, N.: International conference on Nanometrology, scanning probe microscopy and related techniques "NANO'94". Brno (29.08.1994)Detail
TOMÁNEK, P., TOMÁNEK, P.: Photonics Prague 2002 - 4th Int.Conf. on Photonics, Devices and Systems. Praha (26.05.2002)Detail
Physics and Chemistry of Molecular Systems. Brno (06.12.2000)Detail
IANQ. Leuven (25.04.2002)Detail
TOMÁNEK, P.: Optics in computing. St. Petersburg (15.10.2002)Detail
V. Hulínský, P. Tománek, J. Zemek: 3. seminář o metodách blízkého pole. Lázně Bohdaneč (25.09.2002)Detail
TOMÁNEK, P.: Near Field optics and Related Techniques (NFO-7). Rochester (11.08.2002)Detail
Measurement 2003. Smolenice (15.06.2003)Detail
ACSIN7 - Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, Nanostructures. Nara (16.11.2003)Detail
CO-MAT-TECH 2003. Trnava (16.10.2003)Detail
BRÜSTLOVÁ, J., BARTLOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P.: Nové trendy ve fyzice. Brno, FEI VUT (15.11.2001)Detail