Měření morfologie a struktury povrchů mikroskopem atomárních sil (AFM - atomic force microscopy) je založeno na detekci meziatomárních sil mezi ostrým hrotem umístěným na konci pružného raménka a lokálními strukturami studovaného povrchu. Zatímco vkontak tním módu se hrot během rastrování neustále dotýká povrchu a profil povrchu je zaznamenáván ohyby raménka, v bezkontaktním módu je kmitající raménko udržováno v jistých vzdálenostech od povrchu (1-10 nm) a informace o profilu povrchu je získávánaze změn charakteristik kmitání raménka (např. amplitudy a efektivní vlastní frekvence). Výhoda bezkontaktního módu spočívá ve schopnosti měřit měkké vzorky, jako jsou biologické preparáty, rozhraní mezi kapalinou a plynem, maziva na površích a jiné, bezvýznamnéh o poškozování nebo změny sledovaného povrchu

Description in English
The measurement of surface morphology and structure by atomic force microscopy (AFM) is based on detection of interatomic forces between a sharp tip attached to an elastic cantilever and local areas of the studied surface. While in the contact mode the tip is in permanent contact with the surface during scanning and surface profile is recorded via cantilever deflections, in the noncontact mode vibrating cantilever is kept in certain distances from the surface (1310 nm) and information about the surfaceprofile is obtained from the changes of characteristics of cantilever vibrations (e. g. amplitude and effective resonance frequency). The advantage of the noncontact mode consists in capability to measure soft samples such as biological samples, liquid 3air interfaces, lubricants on surfaces and others without significant damages or changes of the observed surface. Planned experimental measurements will be performed by a home-built UHV AFM device for in-situ study of surfaces of ultrathin films prepared