Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 01.01.2004 — 31.12.2008
Funding resources
Technologická agentura ČR - 1. veřejná soutěž Program podpory aplikovaného výzkumu, experimentálního vývoje a inovací DELTA 2 2019
- whole funder (2004-01-01 - 2008-12-31)
On the project
Nanověda aplikuje různé nanotechnologické postupy tak, aby mohla modifikovat a následně studovat vlastnosti nanoobjektů. Zvláště přitažlivé v těchto rozměrech je uplatňování se kvantových jevů. Navrhovaný výzkum bude koncentrován do 5ti oblastí: strukturní, elektronové a spektroskopické vlasnosti na atomární úrovni. Charakterizace nanoklastrů. Nanolitografie se SPM. Makroskopická a topografická data budou kombinována s lokální spektroskopií elektrické vodivosti, elektroluminiscencen, lokální hustoty stavů, difuze, výstupní práce a fotovoltaických jevů. Tyto fyzikkální vlastnosti budou rovněž studovány teoreticky.
Description in EnglishNanoscience aims at emloying complementary nanotechnologies to study and modify properties of nanometer scale objects. Significantly attractive feature of this scale is an increasing influence of quantum phenomena. The proposed research will be concentrated on the five principal topics: Structural, electronic and spectroscopic properties on the atomic scale. Nanoclusters and their characterisation. Nanolithography with the application of SPM methods. Macroscopic characterisation of samples. Theory of electronic structure of atoms and clusters adsorbed and technologicaly important surfaces. Structural and topographic studies of surfaces on the nanoscale will be combined with spectroscopic data giving the information about the local physical parameters connected with local density of states, electrical conductivity, electroluminiscence, surface diffusion doeficient, variation of the surface barrier and photovoltaic properties. Theses features will be treated theoretically as well.
Keywordskřemík, STM, AFM, nanověda, litografie, transportní a optické vlasntosti, morfologie, LDOS, simulace, elektroluminiscence, spektroskopie, PEEM
Key words in EnglishSi; STM; AFM; nanosceicne; litography; transport and optical properties; morphology; LDOS; simulations; electroluminiscence; spectroscopy; PEEM
Mark
IAA1010413
Default language
Czech
People responsible
Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible
Units
Institute of Physical Engineering- beneficiary (2004-01-01 - 2008-12-31)
Results
PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF-LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, vol. 111, no. 3, p. 335-341. ISSN: 0587-4246.Detail
ČERVENKA, J.; KALOUSEK, R.; BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation. Applied Surface Science, 2006, vol. 253, no. 5, p. 2373-2378. ISSN: 0169-4332.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, vol. 61, no. 0, p. 75-79. ISSN: 1742-6588.Detail
KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, vol. 265, no. 2, p. 569-575. ISSN: 0168-583X.Detail
MACH, J.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(100) surface. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 10, p. 1898-1902. ISSN: 0039-6028.Detail
MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, vol. 604, no. 21-22, p. 1906-1911. ISSN: 0039-6028.Detail
ČECHAL, J.; LUKSCH, J.; KOŇÁKOVÁ, K.; URBÁNEK, M.; KOLÍBALOVÁ, E.; ŠIKOLA, T. Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: formation of Co islands. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 15, p. 2693-2698. ISSN: 0039-6028.Detail
PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.Detail
TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447-6441.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, no. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.Detail
ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, vol. 517, no. 6, p. 1928-1934. ISSN: 0040-6090.Detail
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, T.; KOLÍBALOVÁ, E.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Self-limiting cyclic growth of gallium droplets on Si(111). NANOTECHNOLOGY, 2008, vol. 19, no. 46, p. 475606-1 (475606-5 p.)ISSN: 0957-4484.Detail