Publication detail

Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku

BŘÍNEK, L. DVOŘÁK, P. NEUMAN, T. DUB, P. KALOUSEK, R. ŠIKOLA, T.

Original Title

Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku

English Title

Application of scanning near field optical microscope for plasmonics

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Článek se zabývá měřením povrchových plazmonových polaritonů pomocí rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli. Interference povrchových plazmonových polaritonů jsou měřeny na strukturách sestavených z dvojice excitačních drážek připravených fokusovaným iontovým svazkem na kovovém povrchu. Interferenční obrazce v oblasti mezi excitačními drážkami jsou závislé na vzájemném úhlu drážek a polarizaci dopadajícího elektromagnetického svazku.

English abstract

The article deals with measurements of surface plasmon polaritons via scanning near field optical microscope. Interference patterns of surface plasmon polaritons have been measured between pairs of excitation grooves fabricated by the focused ion beam on the metallic surface. Interference patters in the space among excitation grooves depend on the mutual angle between the grooves and the polarization state of the incident electromagnetic field.

Keywords

Optická mikroskopie v blízkém poli; plazmonika; interference

Key words in English

Near field optical microscopy; plasmonics; interference

Authors

BŘÍNEK, L.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; DUB, P.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T.

RIV year

2013

Released

1. 6. 2013

ISBN

0447-6441

Periodical

Jemná mechanika a optika

Year of study

58

Number

6

State

Czech Republic

Pages from

169

Pages to

171

Pages count

3

BibTex

@article{BUT100683,
  author="Lukáš {Břínek} and Petr {Viewegh} and Tomáš {Neuman} and Petr {Dub} and Radek {Kalousek} and Tomáš {Šikola}",
  title="Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2013",
  volume="58",
  number="6",
  pages="169--171",
  issn="0447-6441"
}