Publication detail

Rentgenová nano- a mikrotomografie pro analýzu odlitků

ZIKMUND, T. PETRILAK, M. ČELKO, L., PROČEK, J. KAISER, J.

Original Title

Rentgenová nano- a mikrotomografie pro analýzu odlitků

English Title

X-ray computed nano and microtomography for casting analysis

Type

conference paper

Language

Czech

Original Abstract

K získání detailní trojrozměrné informace o vnitřní struktuře objektu pomocí rentgenového záření se využívá rentgenová počítačová (mikro-) tomografie - uCT. 3D informaci získáváme průchodem svazků záření objektem pod různými úhly a matematickým zpracováním získaných rovinných obrazců, tzv. tomografickou rekonstrukcí. V článku jsou shrnuty možnosti využití počítačové mikrotomografie pro využití ve slévárenství, pro kontrolu tvaru odlitků, dále pro měření rozložení a velikosti pórů a inkluzí. uCT analýza je demonstrována spolu využitím konkrétních příkladů realizovaných na uCT stanici GE v tome X l240, splňující průmyslové standardy a instalované na VUT v Brně.

English abstract

In this paper we present the results onutilization of X-ray micro computed tomography as a diagnostic methods for detection of voids in castings.

Keywords

Rentgenová počítačová (mikro-) tomografie, CT, uCT, nedestruktivní defektoskopie, odlitek

Key words in English

uCT, casting, defectoscopy, voids

Authors

ZIKMUND, T.; PETRILAK, M.; ČELKO, L.,; PROČEK, J.; KAISER, J.

RIV year

2013

Released

1. 10. 2013

ISBN

978-80-02-02491-0

Book

Sborník přednášek z 50. slévárenských dnů, Blok A - Sekce technologická

Edition

1

Edition number

1

Pages from

44

Pages to

49

Pages count

6

BibTex

@inproceedings{BUT103063,
  author="Tomáš {Zikmund} and Michal {Petrilak} and Ladislav {Čelko} and Jan {Proček} and Jozef {Kaiser}",
  title="Rentgenová nano- a mikrotomografie pro analýzu odlitků",
  booktitle="Sborník přednášek z 50. slévárenských dnů, Blok A - Sekce technologická",
  year="2013",
  series="1",
  number="1",
  pages="44--49",
  isbn="978-80-02-02491-0"
}