Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Publication detail
ZIKMUND, T. PETRILAK, M. ČELKO, L., PROČEK, J. KAISER, J.
Original Title
Rentgenová nano- a mikrotomografie pro analýzu odlitků
English Title
X-ray computed nano and microtomography for casting analysis
Type
conference paper
Language
Czech
Original Abstract
K získání detailní trojrozměrné informace o vnitřní struktuře objektu pomocí rentgenového záření se využívá rentgenová počítačová (mikro-) tomografie - uCT. 3D informaci získáváme průchodem svazků záření objektem pod různými úhly a matematickým zpracováním získaných rovinných obrazců, tzv. tomografickou rekonstrukcí. V článku jsou shrnuty možnosti využití počítačové mikrotomografie pro využití ve slévárenství, pro kontrolu tvaru odlitků, dále pro měření rozložení a velikosti pórů a inkluzí. uCT analýza je demonstrována spolu využitím konkrétních příkladů realizovaných na uCT stanici GE v tome X l240, splňující průmyslové standardy a instalované na VUT v Brně.
English abstract
In this paper we present the results onutilization of X-ray micro computed tomography as a diagnostic methods for detection of voids in castings.
Keywords
Rentgenová počítačová (mikro-) tomografie, CT, uCT, nedestruktivní defektoskopie, odlitek
Key words in English
uCT, casting, defectoscopy, voids
Authors
ZIKMUND, T.; PETRILAK, M.; ČELKO, L.,; PROČEK, J.; KAISER, J.
RIV year
2013
Released
1. 10. 2013
ISBN
978-80-02-02491-0
Book
Sborník přednášek z 50. slévárenských dnů, Blok A - Sekce technologická
Edition
1
Edition number
Pages from
44
Pages to
49
Pages count
6
BibTex
@inproceedings{BUT103063, author="Tomáš {Zikmund} and Michal {Petrilak} and Ladislav {Čelko} and Jan {Proček} and Jozef {Kaiser}", title="Rentgenová nano- a mikrotomografie pro analýzu odlitků", booktitle="Sborník přednášek z 50. slévárenských dnů, Blok A - Sekce technologická", year="2013", series="1", number="1", pages="44--49", isbn="978-80-02-02491-0" }