Publication detail

Charakterizace kontaktních vrstev konektorů

WASSERBAUER, J.

Original Title

English Title

Characterization of contact layers of connectors

Type

report

Language

Czech

Original Abstract

Tloušťka kontaktních vrstev (cínu a stříbra) byla stanovena pomocí strukturní analýzy.

English abstract

The thickness of contact layer (tin and silver) was determined using of structural analysis.

Keywords

Cín, stříbro, vrstvy, strukturní analýza.

Key words in English

Tin, silver, layers, structural analysis.

Authors

WASSERBAUER, J.

Released

29. 11. 2012

Pages from

Pages to

Pages count

BibTex

@techreport{BUT106319,
  author="Jaromír {Wasserbauer}",
  title="Charakterizace kontaktních vrstev konektorů",
  year="2012",
  pages="1--18"
}

VUT