funkční vzorek

Tester slouží pro experimentální testování spolehlivosti výkonových CMOS buněk při dynamickém pulzním buzení. Umožňuje budit buňku napětím a současně měření průběhů napětí na tranzistorovém stupni a signálu indikujícího interní teplotu čipu za pomoci vestavěného senzoru teploty. Ve spolupráci s automatizovaným měřícím pracovištěm a obslužným softwarem je dovoleno ovládat měřící proceduru a zajistit záznam všech dat spolu s vizuálním stavem degradace čipu díky mikroskopu s webkamerou. Přípravek pracuje s pouzdry DIP28 (poskytl ON Semiconductor BVBA, Oudenaarde) a jako takový dovoluje připojení k běžnému laboratornímu vybavení (není nutná speciální měřící karta) komunikujícímu pomocí GPIB.

výkonová buňka, dynamické testování, CMOS, spolehlivost

13. 11. 2015

Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2015/Sotner_powercell_tester_CZ.pdf