Publication detail

IBIS-trends bei der Signalintegrität

BAJER, A., MUSIL, V., BRICH, T.

Original Title

IBIS-trends bei der Signalintegrität

English Title

IBIS-trends in Signalintegrity

Type

conference paper

Language

German

Original Abstract

Bereits seit etlichen Jahren ist Signalintegrität ein heißes Thema für viele Baugruppenentwickler - besonders für Entwickler von Systemen, die an vorderster technologischer Front stehen. Bei Silizium-Prozessen für Strukturen unter 0,5um wird fast jeder Entwickler mit Flankensteilheiten konfrontiert, die eine Signalintegritätsanalyse erfordern.

English abstract

New IBIS trends in analyses of signal integrity.

Key words in English

IBIS, SPICE-Simulation, IBIS-Forum, IBIS Models

Authors

BAJER, A., MUSIL, V., BRICH, T.

RIV year

2004

Released

17. 9. 2004

Publisher

Technological Institute of Crete, Greece.

Location

Technological Institute of Crete, Greece.

ISBN

80-214-2819-8

Book

Socrates Workshop 2004. Intensive Training Programme in Electronic System Design. Proceedings.

Pages from

121

Pages to

127

Pages count

7

BibTex

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