Detail publikace

IBIS-trends bei der Signalintegrität

BAJER, A., MUSIL, V., BRICH, T.

Originální název

IBIS-trends bei der Signalintegrität

Anglický název

IBIS-trends in Signalintegrity

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

němčina

Originální abstrakt

Bereits seit etlichen Jahren ist Signalintegrität ein heißes Thema für viele Baugruppenentwickler - besonders für Entwickler von Systemen, die an vorderster technologischer Front stehen. Bei Silizium-Prozessen für Strukturen unter 0,5um wird fast jeder Entwickler mit Flankensteilheiten konfrontiert, die eine Signalintegritätsanalyse erfordern.

Anglický abstrakt

New IBIS trends in analyses of signal integrity.

Klíčová slova v angličtině

IBIS, SPICE-Simulation, IBIS-Forum, IBIS Models

Autoři

BAJER, A., MUSIL, V., BRICH, T.

Rok RIV

2004

Vydáno

17. 9. 2004

Nakladatel

Technological Institute of Crete, Greece.

Místo

Technological Institute of Crete, Greece.

ISBN

80-214-2819-8

Kniha

Socrates Workshop 2004. Intensive Training Programme in Electronic System Design. Proceedings.

Strany od

121

Strany do

127

Strany počet

7

BibTex

@inproceedings{BUT11849,
  author="Arnošt {Bajer} and Vladislav {Musil} and Tomáš {Brich}",
  title="IBIS-trends bei der Signalintegrität",
  booktitle="Socrates Workshop 2004. Intensive Training Programme in Electronic System Design. Proceedings.",
  year="2004",
  pages="7",
  publisher="Technological Institute of Crete, Greece.",
  address="Technological Institute of Crete, Greece.",
  isbn="80-214-2819-8"
}