Patent detail

Způsob měření emisivity lesklých povrchů

HORSKÝ, J. HRABOVSKÝ, J. GUZEJ, M.

Patent type

Patent

Abstract

Způsob stanovení emisivity lesklého povrchu spočívá v tom, že povrch vzorku (2) o neznámé emisivitě, do nějž je ze zadní strany zasunuto teplotní čidlo a který je alespoň na zadní straně opatřen tepelnou izolací (3, 4), se ozařuje zdrojem (5) tepelného záření, přičemž se na teplotním čidle zaznamenává nárůst teploty v závislosti na čase, načež se povrch vzorku opatří vrstvou o známé emisivitě a ozařuje stejným zdrojem (5) ve shodné konfiguraci a se shodnými počátečními teplotními podmínkami a na teplotním čidle se zaznamenává nárůst teploty na čase, poté se prostřednictvím vhodného softwaru v prvním kroku vytvoří výpočtový model odpovídající konfiguraci vzorku (2), k čemuž se použijí data z druhého měření, a provádí se korelace mezi naměřenými hodnotami a výpočtovým modelem až k vytvoření funkčního modelu, v němž jsou naměřený a vypočtený průběh teplot ve shodě, poté se ve druhém kroku na výpočtový model aplikují všechny okrajové podmínky zjištěné z předchozího výpočtu, přičemž se jako jediná neznámá zadá emisivita povrchu vzorku, takto připravený model se optimalizuje, přičemž jako známé parametry se použijí teploty získané z měření, přičemž se optimalizační algoritmus nechá probíhat do okamžiku minimální odchylky vypočtených a změřených dat a v něm se odečte hledaná hodnota emisivity.

Keywords

emisivita, lesklý povrch

Patent number

305705

Date of application

1. 12. 2014

Date of registration

30. 12. 2015

Date of expiry

29. 12. 2025

Owner

Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ

Possibilities of use

In order to use the result by another entity, it is always necessary to acquire a license

Licence fee

The licensor requires a license fee for the result

www