Publication detail

Nano-struktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM

HUDEC, J. NEDĚLA, V. TIHLAŘÍKOVÁ, E.

Original Title

Nano-struktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM

English Title

Nano-structure of natural and conductive layer coated surface of epoxy resin with SiO2 nanoparticles in terms of classical SEM and ESEM

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Článek prezentuje současné možnosti laboratoře environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně při zobrazování povrchových nanostruktur epoxidové pryskyřice s nanočásticemi. Výsledky poukazují na morfologické artefakty vznikající pokovením vzorku či jeho odpařováním vlivem tepelných účinků elektronového svazku a dále přináší možnost porovnání zobrazení vzorků v podmínkách blížících se vakuu a při relativně vysokém tlaku plynů environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu. Vzorky jsou v podmínkách relativně vysokého tlaku plynů zobrazovány ve zcela přirozeném stavu a vzhledem k tomu s velmi vysokým rozlišením pomocí upraveného EREM QUANTA 650 FEG.

English abstract

The paper presents the current possibilities of the environmental electron microscopy laboratory at the ISI CAS in Brno in imaging epoxy resin surface nanostructures with nanoparticles. The results show morphological artifacts emerging due to sample coating or its evaporation caused by the thermal effects of the electron beam, and further provide a comparison between samples observed under the conditions approaching vacuum and samples observed under a relatively high gas pressure in the environmental scanning electron microscope. Samples are displayed in a completely natural state in a relatively high gas pressure and, given the environmental conditions, at a very high resolution in a modified ESEM QUANTA 650 FEG.

Keywords

REM, EREM, epoxidová pryskyřice, nanočástice, vodivá vrstva, morfologické artefakty

Key words in English

SEM, ESEM, epoxy resin, nanoparticles, conductive layer, morphological artifacts

Authors

HUDEC, J.; NEDĚLA, V.; TIHLAŘÍKOVÁ, E.

Released

1. 3. 2017

Publisher

Nakladatelství Fyzikálního ústavu AV ČR, v. v. i.

ISBN

0447-6441

Periodical

Jemná mechanika a optika

Year of study

2017

Number

3

State

Czech Republic

Pages from

75

Pages to

77

Pages count

3

URL

https://fyzika.upol.cz/cs/akce-pro-verejnost/casopis-jemna-mechanika-optika

BibTex

@article{BUT134363,
  author="Jiří {Hudec} and Vilém {Neděla} and Eva {Tihlaříková}",
  title="Nano-struktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2017",
  volume="2017",
  number="3",
  pages="75--77",
  issn="0447-6441",
  url="https://fyzika.upol.cz/cs/akce-pro-verejnost/casopis-jemna-mechanika-optika"
}