Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Publication detail
Michal Raška, Pavel Koktavý
Original Title
ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE
English Title
Microplasma noise - finding G-R coefficients
Type
conference paper
Language
Czech
Original Abstract
Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace.
English abstract
The occurence of microplasma regions in PN junctions is attributed to crystal lattice imperfections. As a rule, these regions feature lower strong-field avalanche ionization breakdown voltages than other homogenous PN junction regions. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occuring in reverse-biased PN junctions at certain voltage. These local avalanche breakdowns affect course of VA characteristics. VA characteristics can exhibit regions with negative differential resistance in certain conditions and number of these regions correspond to number of microplasma regions in PN junction.
Key words in English
PN jnction, semicondactor, breakdown, avalanche, generation, recombination
Authors
RIV year
2006
Released
29. 11. 2006
Publisher
Brno University of Technology
Location
Brno
ISBN
80-7204-487-7
Book
Non-Destructive Testing in Engineering Practice
Edition number
1
Pages from
135
Pages to
138
Pages count
4
BibTex
@inproceedings{BUT22110, author="Michal {Raška} and Pavel {Koktavý}", title="ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE", booktitle="Non-Destructive Testing in Engineering Practice", year="2006", number="1", pages="4", publisher="Brno University of Technology", address="Brno", isbn="80-7204-487-7" }