Publication detail

ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

Michal Raška, Pavel Koktavý

Original Title

ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

English Title

Microplasma noise - finding G-R coefficients

Type

conference paper

Language

Czech

Original Abstract

Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace.

English abstract

The occurence of microplasma regions in PN junctions is attributed to crystal lattice imperfections. As a rule, these regions feature lower strong-field avalanche ionization breakdown voltages than other homogenous PN junction regions. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occuring in reverse-biased PN junctions at certain voltage. These local avalanche breakdowns affect course of VA characteristics. VA characteristics can exhibit regions with negative differential resistance in certain conditions and number of these regions correspond to number of microplasma regions in PN junction.

Key words in English

PN jnction, semicondactor, breakdown, avalanche, generation, recombination

Authors

Michal Raška, Pavel Koktavý

RIV year

2006

Released

29. 11. 2006

Publisher

Brno University of Technology

Location

Brno

ISBN

80-7204-487-7

Book

Non-Destructive Testing in Engineering Practice

Edition number

1

Pages from

135

Pages to

138

Pages count

4

BibTex

@inproceedings{BUT22110,
  author="Michal {Raška} and Pavel {Koktavý}",
  title="ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE",
  booktitle="Non-Destructive Testing in Engineering Practice",
  year="2006",
  number="1",
  pages="4",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="80-7204-487-7"
}