Elektrochromní elektrody zkoumane pomocí QCB

Investigation elektrochromical devices by QCB method.

conference paper

Czech

Tlouštku vrstvy materiálu na elektrodě lze měřit pomocí QCB (quartz crystal microbalance/balance). Tato metoda je založena na změně rezonanční frekvence křemenného krystalového rezonátoru. Zkoumaná vrstva se nanáší přímo na elektrodu QCB. Tato elektroda může být tvořena různými kovy (Pt, Au, Ag). Nějčastěji se používá výbrus s rezonanční frekvencí 5 MHz.. Měření probíhá v tříelektrodovém systému pomocí potenciostatu. Změny rezonanční frekvence potom odpovídají změně tloušky vrstvy na elektrodě. Jedná se o velmi citlivou měřící techniku.

The QCB method is based on principle changes of resonance frequency a silicon crystal. These changes depend on a level of intercalation elements to the layout of the crystal. The silicon crystal with metal Au, AG, Pt plating present one the three electrode system. The resonant frequency of this crystal is set from a production on the specific frequency. Through the use of the external potential source in a specific electrolyte we apply elements on the plated part of the crystal. Those elements change the resonant frequency of the crystal. This change is used for detect weight of elements which are applied on the crystal. This system is very sensitive and we can measure by it a very small weight of a mass.

Křemenné mikrovahy, interkalace

Quartz krystal balance

Špičák P., Svoboda V., Sedlaříková M., Vondrák J., Kazelle J.

2006

12. 9. 2006

Brno

80-02-01842-7

27. Nekonvenční zdroje elektrické energie

93

95

3