Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu

Polymorphic gates for test optimalization

conference paper

Czech

Polymorfní elektronika je nový přístup k tvorbě elektronických obvodů, které jsou schopny na základě vnějších podmínek (teplo, světlo, napájecí napětí atp.) měnit svoji funkci. Tato práce pojednává o novém typu aplikace polymorfní elektroniky. Polymorfní hradla jsou vkládána do klasických obvodů za účelem snížení počtu testovacích vektorů potřebných pro dosažení stanovených parametrů testu. V jednom režimu plní obvod klasickou funkci. Ve druhém režimu může být obvod testován s menším počtem testovacích vektorů, než kdyby zůstal v režimu prvním, přičemž pokrytí poruch je stejné. Při testech na šesti vzorových obvodech bylo dosaženo redukce až 50%. Článek se také zabývá některými problémy, které daný koncept přináší.

Polymorphic electronics (polytronics) can be seen as a novel approach to the design of electronic circuits which are able to change their function with respect to the external conditions (temperature, light, power supply voltage, etc.). This paper shows new application of polymorphic electronics. Polymorphic gates are inserted into conventional circuits for reduction count of test vector, which are needed for achieve of requested test parameters. In first mode new circuit behave as original circuit. In second mode this circuit can be tested with fewer test vectors with same fault coverage as original circuit. Six circuits were used in tests and count of test vectors can be reduced up to 50%. Article show some problems of this concept too.

polymorfní elektronika, polytronika, polymorfní hradla, ATPG, design for test, snižování počtu testovacích vektorů.

polymorphic electronics, polytronics, polymorphic gates, ATPG, design for test, test vectors reduction

STAREČEK, L.

2007

17. 9. 2007

Západočeská univerzita v Plzni

Plzeň

978-80-7043-605-9

Sborník příspěvků Česko-slovenského semináře Počítačové architektury a diagnostika pro studenty doktorandského studia

41

46

6