Lokální optické vláknové sondy pro mikroskop pracující v blízkém poli

Local fiber probes for Scanning near-field optical microscope

journal article - other

Czech

Mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) se stala v posledním desetiletí nedílnou součástí moderních metod lokální mikroskopie, protože STM či AFM mikroskopy, ač mají vyšší rozlišovací schopnost, neumožňují vizualizaci některých optických a elektrických vlastnosti vzorků se superrozlišením. Klíčovým místem mikroskopu je vlastní optická sonda, neboť na jejích rozměrech a tvaru závisí rozlišovací schopnost zařízení. Sondy z jednovidového a mnohavidového vlákna byly vyrobeny modifikací dvou základních metod, tj. ohřevem a tažením vlákna či jeho leptáním v různých prostředích a jejich následným pokovením, či ponecháním bez kovové vrstvy. Takto vyrobené sondy umožní dosažení subvlnového rozlišení.

During the last decade, Scanning Near-field Optical Microscope (SNOM) became an integral part of novel methods of local microscopy, due to the fact that STM and AFM do not ensure the visualization and characterization of optical and electronic properties of the sample. The optical probe itself is a key element of this microscope, because its dimension and shape are crucial for the device resolution. The singlemode and mutlimode fiber probes has been made by modified two principal methods of fabrication, e.g. heating and pulling on the one hand and chemical etching in the different solutions on the other hand. The consequent metallization allows then a formation of the small aperture (apex) on the extremity of the fiber. Nonmetallized probe can also be used so that the subwavelenght resolution and local visualization of electric and optical characteristics on the semiconductor junctions is possible.

local probe, optical fiber, heating, etching, resolution, sanning near-field optical microscopy

LÉTAL, P., TOMÁNEK, P.

2004

30. 5. 2004

0447-6411

49

6

163

166

4