Publication detail

Metody objektivního stanovování reprezentativní hodnoty parametrů struktury povrchu funkčních ploch.

VAČKÁŘ, J. PERNIKÁŘ, J.

Original Title

Metody objektivního stanovování reprezentativní hodnoty parametrů struktury povrchu funkčních ploch.

English Title

Methods of objective assessment of the representative valueof surface structure parameters

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Jakost funkčních ploch, která významným způsobem ovlivňuje užitné vlastnosti výrobku, je definována mimo jiné parametry struktury povrchu. Pro zjišťování skutečné hodnoty sledovaného parametru na konkrétní ploše existují objektivní i subjektivní metody a postupy. Základní pravidla a postupy pro posuzování struktury povrchu definuje ČSN EN ISO 4288, která specifikuje standardní pravidla pro porovnání měřených hodnot s požadovanými hodnotami daných parametrů na výkrese nebo v technické dokumentaci. Pro praktickou přejímku struktury povrchu je často nutné stanovit přesné postupy jako podklad pro výsledná jednání mezi odběratelem a dodavatelem. Autoři vypracovali objektivní metodu, pomocí které je možné zcela objektivně s danou pravděpodobností stanovit tzv. reprezentativní hodnotu daného parametru struktury povrchu.

English abstract

The quality of functional surfaces, influencing in a significant way the utility characteristics of the product, is, among others, specified by the parameters of surface structure. For determination of the effective value of the measured parameter of the given surface there are both objective and subjective methods and procedures. Basic rules and procedures to be applied when considering the surface structure are determined by the Czech standard ČSN EN ISO 4288 specifying standard rules for comparison of measured values and required values of parameters in drawings or technical specification. For practical takeover of the surface structure it is often necessary to determine accurate procedures as a basis for final dealings between the customer and supplier. The authors have elaborated an objective method that can be used to determine objectively so called representative value of the surface structure parameter with a given probability.

Key words in English

Surface structure, surface roughness parameters, roughness parameter upper limit, basic length, representative value of surface roughness parameter

Authors

VAČKÁŘ, J.; PERNIKÁŘ, J.

Released

14. 1. 2002

ISBN

1211-4162

Periodical

Strojírenská technologie

Year of study

2002

Number

3

State

Czech Republic

Pages from

13

Pages to

17

Pages count

5

BibTex

@article{BUT42844,
  author="Josef {Vačkář} and Jiří {Pernikář}",
  title="Metody objektivního stanovování reprezentativní hodnoty parametrů struktury povrchu funkčních ploch.",
  journal="Strojírenská technologie",
  year="2002",
  volume="2002",
  number="3",
  pages="13--17",
  issn="1211-4162"
}