Publication detail

Analýza nejistot při vyhodnocování úchylek přímosti

KRUŽÍK, M. MUSIL, M.

Original Title

Analýza nejistot při vyhodnocování úchylek přímosti

English Title

Uncertainty Analysis for Evolution of Deviations from straightness

Type

report

Language

Czech

Original Abstract

Výrobci Laserinterferometrických systémů, neuvádí celkovou nejistotu pro měření úchylek přímosti, která je přitom velmi významná. Dá se ovšem stanovit z nejistot vstupních veličin. Zpráva řeší metodiku stanovení a vyhodnocení nejistoty měření a zhodnocení vybrané moderní metody kontroly přímosti. Chyby přímosti při vlastním měření lze eliminovat opakováním daného měření za stejných podmínek a novým vyhodnocením střední hodnoty a směrodatné odchylky. Pro měření je též nezbytné provést správné seřízení laserového paprsku.

English abstract

The producers of the laserinterferometric systems do not mention the total uncertainty for measuring of deviations from straightness which is hereat very important. It can be indeed determined from the input uncertainties. The note resolves the methods of determination and evolution of measuring uncertainty and interpretation of select modern method of checking the straightness. The straightness errors at the measuring itself could be eliminated by repeating the given measuring at the same conditions and by a brand new evolution of the mean value and standard deviation. For measuring itself is also necessary so that the laser beam is adjusted properly.

Key words in English

laserinterferometer,straightness , measuring uncertainty, deviation, mean value

Authors

KRUŽÍK, M.; MUSIL, M.

Released

20. 12. 2002

Publisher

VUT Brno

Location

Brno

ISBN

80-214-2290-4

Book

FSI Junior konference

Edition

VUT

Edition number

1

Pages from

124

Pages to

128

Pages count

4

BibTex

@techreport{BUT57577,
  author="Michal {Kružík} and Martin {Musil}",
  title="Analýza nejistot při vyhodnocování úchylek přímosti",
  year="2002",
  publisher="VUT Brno",
  address="Brno",
  series="VUT",
  edition="1",
  pages="124--128",
  isbn="80-214-2290-4"
}