Product detail

Testovací zařízení pro výzkum výkonově kontaktovaných čipů

NOVOTNÝ, M. JANKOVSKÝ, J. SZENDIUCH, I.

Product type

funkční vzorek

Abstract

Jedná se o zařízení pro testování proudové zatížitelnosti kontaktovaných polovodičových čipů s maximálním proudem do 10 A.

Keywords

čip, wirebonding, výkonové kontaktování

Create date

1. 11. 2007

Location

UMEL

Possibilities of use

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licence fee

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek