funkční vzorek

Zařízení umožňuje měřit i výrazně anizotropní úhlové rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného z libovolných povrchů pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra. Nastavitelné polohy jeho jednotlivých mechanických částí umožňují měřit rozptyl světla na studovaném povrchu při jeho různých orientacích vůči dopadajícímu zdroji elektromagnetického záření (polovodičový laser Thorlabs LDM1550 s vlnovou délkou 1550 nm a polovodičový laser Thorlabs LDM 635 s s vlnovou délkou 635 nm, Ar-Kr laser laditelný na 12 vlnových délek vystupujícího světla ve viditelné oblasti spektra) v celé hemisféře nad daným povrchem (střed hemisféry je totožný se středem ozářené plochy povrchu) s krokem daným přijímacím úhlem fotodiody (InGaAs PIN fotodioda Hamamatsu G10899 - 03K, délka hrany aktivní plochy diody je rovna 3 mm, vzdálenost dioda - střed ozářené plochy povrchu je rovna 200 mm), která je použita jako detektor intenzity rozptýleného záření. Pohyb příslušných mechanických částí SM je řízen počítačem. Výstupní signál fotodiody je digitalizován vhodně navrženým AD převodníkem a zpracováván speciálně vyvinutým software.

rozptyl elektromagnetického záření, instrumentace

6. 12. 2010

Laboratoř koherenční optiky ÚFI FSI VUT v Brně, budova A2, místnost 218

Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Id=1855