Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Publication detail
VYROUBAL, P.
Original Title
Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM
English Title
Using computer aided enineering for analyse the detector
Type
conference paper
Language
Czech
Original Abstract
Tento článek se zabývá porovnáním a vyhodnocením vlivu tvaru Lavalovy dýzy v clonkách scintilačního detektoru na výsledný tlak na dráze sekundárních elektronů environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu s využitím CAE a CAD systémů.
English abstract
This article deals with the comparison and evaluation of the influence shape Laval nozzle in screening secondary detector to the resulting pressure and gas flow on the lane at the secondary electron scintillation detector for Environmental scanning electron microscope with using Computer Aided Design and Computer Aided Engineering.
Key words in English
EREM, CAD, CAE, electron microscope, scintillation detector, environmentally scanning electron microscope, Lavals nozzle, SolidWorks, gas flow
Authors
RIV year
2011
Released
24. 10. 2011
Location
Plzeň
ISBN
978-80-261-0016-4
Book
Elektrotechnika a informatika 2011
Edition number
1
Pages from
157
Pages to
160
Pages count
4
BibTex
@inproceedings{BUT74404, author="Petr {Vyroubal}", title="Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM", booktitle="Elektrotechnika a informatika 2011", year="2011", number="1", pages="157--160", address="Plzeň", isbn="978-80-261-0016-4" }