Publication detail

Prognóza spolehlivosti rezistorů z měření nízkofrekvenčního šumu

SCHAUER, P., ŠIKULA, J.

Original Title

Prognóza spolehlivosti rezistorů z měření nízkofrekvenčního šumu

English Title

Prediction reliability of resistors from low frequency noise

Type

conference paper

Language

Czech

Authors

SCHAUER, P., ŠIKULA, J.

RIV year

1997

Released

1. 1. 1997

Publisher

Slovenská technická univerzita v Bratislave

Location

Bratislava

Pages from

113

Pages to

118

Pages count

6

BibTex

@inproceedings{BUT1207,
  author="Pavel {Schauer} and Josef {Šikula}",
  title="Prognóza spolehlivosti rezistorů z měření nízkofrekvenčního šumu",
  booktitle="Výskumné aktivity katedier fyziky na stavebných fakultách v",
  year="1997",
  pages="6",
  publisher="Slovenská technická univerzita v Bratislave",
  address="Bratislava"
}