Publication detail

Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování

KONEČNÝ, M.

Original Title

Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování

English Title

Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování

Type

miscellaneous

Language

Czech

Original Abstract

Seznam vzorků a vhodných aplikačních měření demonstrujících co nejlépe výhody společné integrace mikroskopu atomárních sil a elektronového mikroskopu byl vytvořen provedením průzkumu trhu na základě literární/webové rešerše a na základě komunikace s jednotlivými vědeckými týmy působícími v rámci výzkumné infrastruktury CEITEC. Při výběru vhodných aplikací se vycházelo zejména ze zřejmých výhod, které využití mikroskopu LiteScope spolu s elektronovými mikroskopy přináší

English abstract

A list of samples and suitable application measurements demonstrating the best possible benefits of the joint integration of the atomic force microscope and the electron microscope was created by conducting a market research based on a literature / web search and on communication with individual scientific teams operating within the CEITEC research infrastructure. The selection of suitable applications was based mainly on the obvious advantages that the use of the LiteScope microscope together with electron microscopes brings.

Keywords

mikroskopie atomových sil; rastrovací elektronová mikroskopie; korelační mikroskopie; AFM-v-SEM; nanoindentace

Key words in English

atomic force microscopy; scanning electron microscopy; correlative microscopy; AFM-in-SEM; nanoindentation

Authors

KONEČNÝ, M.

Released

31. 12. 2019

Pages count

23

BibTex

@misc{BUT164108,
  author="Martin {Konečný}",
  title="Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování",
  year="2019",
  pages="23",
  note="miscellaneous"
}