Publication detail

Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek

NOVOTNÝ, R.

Original Title

Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek

English Title

Failure analysis of the electronic devices

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Cíl nulového počtu neshod a komplexnost ve výrobě elektronických součástek vytváří požadavky, že spolehlivost a vysoká technologický výtěžnost musí být hodnocena. Analýza vad napomáha indentifikování potenciálních problémů se spolehlivostí, které mohou být eliminovány.

English abstract

The achievement of zero failures and the complexity of the integrated circuit implies that reliability and high manufacturing yield must be evaluated. Failure analysis can identify potencial reliability problems, which may then be eliminated.

Key words in English

Reliability, quality, electronic devices, reliability improvement, failure rate, failure analysis.

Authors

NOVOTNÝ, R.

Released

29. 6. 2001

ISBN

1213-1539

Periodical

Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)

Year of study

28/2001

Number

6

State

Czech Republic

Pages from

1

Pages to

9

Pages count

9

URL

http://www.elektrorevue.cz

BibTex

@article{BUT40110,
  author="Radovan {Novotný}",
  title="Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek",
  journal="Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)",
  year="2001",
  volume="28/2001",
  number="6",
  pages="9",
  issn="1213-1539",
  url="http://www.elektrorevue.cz"
}