Detail předmětu

Optická metrologie

FSI-XOMAk. rok: 2010/2011

Optická metrologie je založena na možnostech využití optických jevů k měření. Její existence a rozvoj vyžadují zásadní spojení znalostí z fyziky, přesné mechaniky, elektroniky a využití počítačů. K současnému rychlému rozvoji a rozšíření optických měřicích metod přispěly především laserová technika, počítače a vláknová optika. Předmět je zaměřen na teoretické i experimentální zvládnutí optických měřicích metod a metod optického nedestruktivního testování.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

5

Výsledky učení předmětu

Studenti získají znalosti o vybraných moderních optických metodách. Budou schopni aktivně se podílet na navrhování a užívání zařízení pro optická měření a nedestruktivní testování.

Prerekvizity

Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II, Metrogická fyzika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Způsob a kritéria hodnocení

Hodnocení odevzdaných zpráv z laboratorních úloh a testů z průběžných znalostí odpřednášené látky.

Učební cíle

Cílem kurzu je seznámit studenty s novými trendy v inženýrské optice, zejména s aplikacemi moderních optických metod a zařízení v metrologie a v nedestruktivním testování.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Příprava na měření a vypracovaných zpráv. Měření stanovených úloh je nutné absolvovat.

Základní literatura

MALACARA, D. and THOMPSON, B.J. Handbook of Optical Engineering. New York: Dekker, 2001. 978 p.
RASTOGI, P.K. and INAUDI, D. Trends in Optical Nondestructive Testing and Inspection. Amsterdam: Elsevier, 2000. 633 p.
SALEH, B.E.A and TEICH, M.C. Fundamentals f Photonics. New York: Wiley, 1991. 966 p.

Doporučená literatura

FUKA, J. and HAVELKA, B. Optika. Praha: SPN, 1961. 846 p.
MALACARA, D. and THOMPSON, B.J. Handbook of Optical Engineering. New York: Dekker, 2001. 978 p.
SALEH, B.E.A and TEICH, M.C. Základy fotonky. Praha: MATFYZPRESS, 1994. 1055 p.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-P magisterský navazující

    obor M-MŘJ , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný