Detail předmětu
Optická metrologie
FSI-XOMAk. rok: 2010/2011
Optická metrologie je založena na možnostech využití optických jevů k měření. Její existence a rozvoj vyžadují zásadní spojení znalostí z fyziky, přesné mechaniky, elektroniky a využití počítačů. K současnému rychlému rozvoji a rozšíření optických měřicích metod přispěly především laserová technika, počítače a vláknová optika. Předmět je zaměřen na teoretické i experimentální zvládnutí optických měřicích metod a metod optického nedestruktivního testování.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Základní literatura
RASTOGI, P.K. and INAUDI, D. Trends in Optical Nondestructive Testing and Inspection. Amsterdam: Elsevier, 2000. 633 p.
SALEH, B.E.A and TEICH, M.C. Fundamentals f Photonics. New York: Wiley, 1991. 966 p.
Doporučená literatura
MALACARA, D. and THOMPSON, B.J. Handbook of Optical Engineering. New York: Dekker, 2001. 978 p.
SALEH, B.E.A and TEICH, M.C. Základy fotonky. Praha: MATFYZPRESS, 1994. 1055 p.