Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail předmětu
FEKT-MIPSAk. rok: 2011/2012
Definice pojmů, charakteristika snímačů. Základní technologické postupy při výrobě snímačů, objemové a povrchové mikroobrábění. Základní fyzikální jevy využívané u mikroelektronických polovodičových snímačů. Polovodičové a mikroelektronické snímače pro měření veličin mechanických, magnetických, radiačních, tepelných, chemických. Biosnímače, inteligentní snímače. Koncepce inteligentních snímačů - čidlo, elektronické zpracování signálu, komunikační rozhraní, diagnostika, automatická kalibrace. Příklady typických aplikací ve vybraných systémech.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Osnovy výuky
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Zařazení předmětu ve studijních plánech
obor M-KAM , 2 ročník, zimní semestr, volitelný oborový
obor ET-CZV , 1 ročník, zimní semestr, volitelný oborový
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova
Laboratorní cvičení