Detail předmětu
Smart and Semiconductor Sensors
FEKT-NIPSAk. rok: 2011/2012
Definice pojmů, charakteristika snímačů. Základní technologické postupy při výrobě snímačů, objemové a povrchové mikroobrábění. Základní fyzikální jevy využívané u mikroelektronických polovodičových snímačů. Polovodičové a mikroelektronické snímače pro měření veličin mechanických, magnetických, radiačních, tepelných, chemických. Biosnímače, inteligentní snímače. Koncepce inteligentních snímačů - čidlo, elektronické zpracování signálu, komunikační rozhraní, diagnostika, automatická kalibrace. Příklady typických aplikací ve vybraných systémech.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Zařazení předmětu ve studijních plánech
Typ (způsob) výuky
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova
Základní technologické postupy při výrobě snímačů, objemové a povrchové mikroobrábění
Základní fyzikální jevy využívané u mikroelektronických polovodičových snímačů
Snímače mechanických veličin
Snímače mechanických veličin
Snímače magnetických veličin
Snímače radiačních veličin
Snímače radiačních veličin
Snímače tepelných veličin
Snímače chemických veličin
Biosnímače
Koncepce inteligentních snímačů - čidlo, elektronické zpracování signálu, komunikační rozhraní, diagnostika, automatická kalibrace
Příklady typických aplikací ve vybraných systémech.
Laboratorní cvičení
Vyučující / Lektor
Osnova