Detail předmětu

Optická metrologie

FSI-XOM-KAk. rok: 2011/2012

Optická metrologie je založena na možnostech využití optických jevů k měření. Její existence a rozvoj vyžadují zásadní spojení znalostí z fyziky, přesné mechaniky, elektroniky a využití počítačů. K současnému rychlému rozvoji a rozšíření optických měřicích metod přispěly především laserová technika, počítače a vláknová optika. Předmět je zaměřen na teoretické i experimentální zvládnutí optických měřicích metod a metod optického nedestruktivního testování.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

Garant předmětu

prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc.

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Výsledky učení předmětu

Studenti získají znalosti o vybraných moderních optických metodách. Budou schopni aktivně se podílet na navrhování a užívání zařízení pro optická měření a nedestruktivní testování.

Prerekvizity

Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II, Metrogická fyzika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Způsob a kritéria hodnocení

Hodnocení odevzdaných zpráv z laboratorních úloh a testů z průběžných znalostí odpřednášené látky.

Učební cíle

Cílem kurzu je seznámit studenty s novými trendy v inženýrské optice, zejména s aplikacemi moderních optických metod a zařízení v metrologie a v nedestruktivním testování.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Příprava na měření a vypracovaných zpráv. Měření stanovených úloh je nutné absolvovat.

Základní literatura

MALACARA, D. and THOMPSON, B.J. Handbook of Optical Engineering. New York: Dekker, 2001. 978 p.
RASTOGI, P.K. and INAUDI, D. Trends in Optical Nondestructive Testing and Inspection. Amsterdam: Elsevier, 2000. 633 p.
SALEH, B.E.A and TEICH, M.C. Fundamentals f Photonics. New York: Wiley, 1991. 966 p.

Doporučená literatura

FUKA, J. and HAVELKA, B. Optika. Praha: SPN, 1961. 846 p.
MALACARA, D. and THOMPSON, B.J. Handbook of Optical Engineering. New York: Dekker, 2001. 978 p.
SALEH, B.E.A and TEICH, M.C. Základy fotonky. Praha: MATFYZPRESS, 1994. 1055 p.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-K magisterský navazující

    obor M-MŘJ , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Laboratorní cvičení

9 hod., povinná

Vyučující / Lektor

prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc.

Osnova

Goniometr. Měření úhlových parametrů hranolů
Kolimátor a autokolimátor. Měření ohniskové vzdálenosti objektivu.
Hranolový a mřížkový spektrometr.
Murtyův interferometr. Michelsonův interferometr. Machův-Zehnderův interferometr.
Měření odchylek parametrů a nehomogenit optických prvků interferometrickými metodami.
Metody vyhodnocování interferogramů.
Parametry a transformace laserového svazku.
Laserová interferometrie.
Laserová spektroskopie.
Využití holografické interferometrie ke zjišťování změny tvaru a polohy objektů a k vizualizaci fázových objektů. Optická tomografie.
Využití koherenční zrnitosti .
Vláknové senzory. Příklady využití.
Moiré interferometre. Využití ke stanovení deformace objektu.
Elektooptické a akustooptické modulátory a deflektory.