Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail předmětu
FSI-XOM-KAk. rok: 2011/2012
Optická metrologie je založena na možnostech využití optických jevů k měření. Její existence a rozvoj vyžadují zásadní spojení znalostí z fyziky, přesné mechaniky, elektroniky a využití počítačů. K současnému rychlému rozvoji a rozšíření optických měřicích metod přispěly především laserová technika, počítače a vláknová optika. Předmět je zaměřen na teoretické i experimentální zvládnutí optických měřicích metod a metod optického nedestruktivního testování.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Základní literatura
Doporučení literatura
Zařazení předmětu ve studijních plánech
obor M-MŘJ , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
Laboratorní cvičení
Vyučující / Lektor
Osnova