Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail předmětu
FSI-WA1Ak. rok: 2012/2013
Světelná mikroskopie (metody, principy, aplikace), obrazová analýza, technologie.Interakce elektronů s hmotou. Transmisní elektronová mikroskopie a difrakce. Vysokonapěťový TEM. Mikroskopie s vysokým rozlišením. Rastrovací elektronová mikroskopie. Environmentální EM. Lokální analýza v TEM a REM (s využitím buzeného rtg. záření, augerových elektronů, spektroskopie elektronových ztrát). Rtg. difraktometrie.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Základní literatura
Doporučení literatura
Zařazení předmětu ve studijních plánech
obor M-FIN , 1 ročník, letní semestr, povinnýobor M-MTI , 1 ročník, letní semestr, povinný
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova