Detail předmětu

Radioelektronická měření

FEKT-LREMAk. rok: 2013/2014

Definice základních chyb měření, jejich statistické vyhodnocení. Prvky automatizace měření, základní principy jednotlivých programů. Přesná měření, definice stálosti parametrů. Moderní vysokofrekvenční měřicí technika. Skalární a vektorová měření. Měření impedance.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

6

Garant předmětu

Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav radioelektroniky (UREL)

Výsledky učení předmětu

Absolvent předmětu je schopen (1) používat základní měřicí metody, umí (2) analyzovat naměřená dat a umí (3) navrhnout moderní automatizovaný měřicí systém a realizovat ovládací program v prostředí Agilent VEE (4), Matlab (5) a LabView (6).

Prerekvizity

Jsou požadovány znalosti na úrovni bakalářského studia.

Korekvizity

Žádné korekvizity nejsou požadovány.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování zahrnují přednášky a laboratorní cvičení.

Způsob a kritéria hodnocení

Průběžné testy během semestru a laboratorní cvičení (30 bodů), závěrečná zkouška (70 bodů).

Osnovy výuky

1. Definice chyb měření a jejich základní vyhodnocení. Zásady správného měření.
2. Automatizovaná měřicí pracoviště.
3. Agilent VEE.
4. Základní osciloskopická měření.
5. Měření kmitočtu.
6. Spektrální měření.
7. Skalární měření na skalárních analyzátorech.
8. Vektorová měření.
9. Měření impedance.
10. Akviziční jednotky pro sběr dat.
11. Generátory testovacích signálů.

Učební cíle

Seznámit studenty s principy základních měřicích metod používaných při měřeních ve vysokofrekvenční technice. Seznámit studenty s využitím různých programových prostředí vhodných pro tvorbu automatizovaných měřicích systémů.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění stanoví každoročně aktualizovaná vyhláška garanta předmětu.

Základní literatura

HAASZ, V., ROZTOČIL, J., NOVÁK, J., Číslicové měřicí systémy, ČVUT Praha 2000 (CS)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program EEKR-ML magisterský navazující

    obor ML-TIT , 2 ročník, letní semestr, volitelný mimooborový
    obor ML-EST , 2 ročník, letní semestr, volitelný oborový

  • Program EEKR-ML1 magisterský navazující

    obor ML1-TIT , 1 ročník, letní semestr, volitelný mimooborový
    obor ML1-EST , 1 ročník, letní semestr, volitelný oborový

  • Program EEKR-CZV celoživotní vzdělávání (není studentem)

    obor ET-CZV , 1 ročník, letní semestr, volitelný oborový

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D.

Osnova

Definice chyb měření a jejich základní vyhodnocení. Zásady správného měření.
Automatizovaná měřicí pracoviště.
Agilent VEE.
Základní osciloskopická měření.
Měření kmitočtu.
Spektrální měření.
Skalární měření na skalárních analyzátorech.
Vektorová měření.
Měření impedance.
Speciální měření (six-port, …).
Měřicí postupy pro měření rušení.
Měřicí karty pro PC.

Laboratorní cvičení

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D.

Osnova

Seznámení s grafickým programovým prostředím Agilent VEE.
Porovnání vlastností spektrálního analyzátoru a měřicího přijímače, měření kmitočtových charakteristik.
Měření na skalárním analyzátoru.
Demodulace QPSK.
Přesná měření, měření stálosti parametrů.
Základní měření na osciloskopu.
Měření na základní PC kartě.