Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail předmětu
FSI-WA2Ak. rok: 2013/2014
Specielní mikroskopické metody a metody elektronové difrakce (např. ALCHEMI, EXAFS, difrakce pomalých elektronů, difrakce v REM atd.) Metody rychlé spektrální analýzy pro průmyslovou praxi (rtg. spektrometry, metody využívající emisi, absorbci a fluorescenci světelných fotonů aj.). Principy dalších vybraných fyzikálních metod (ESCA, SIMS, SIPS). Mikroskopie s využitím akustické emise.Laserová mikroskopie. Metody s rastrující sondou (rastrovací tunelová mikroskopie, AFM, SNOM a další).
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Základní literatura
Zařazení předmětu ve studijních plánech
obor M-MTI , 2 ročník, zimní semestr, povinný
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova