Detail předmětu

Diagnostika a měření funkčních vlastností nanostruktur

CEITEC VUT-DS102Ak. rok: 2013/2014

Jazyk výuky

čeština

Garant předmětu

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.

Zajišťuje ústav

Středoevropský technologický institut VUT (CEITEC VUT)

Základní literatura

Stroscio A., Keiser W. J.: Scanning Tunneling Microscopy, Academic Press, Inc., 1993 (EN)
Meyer E., Hug H. J.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip, Springer , 2004 (EN)
Novotny L. and Hecht B.:Principles of Nano-Optics, Cambridge University Press, 2006 (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program STIPMN doktorský

    obor PNTMT , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
    obor PNTMT , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný