Detail předmětu
Metody rentgenové strukturní analýzy
CEITEC VUT-DS206Ak. rok: 2013/2014
Jazyk výuky
čeština
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Přírodovědecká fakulta (PřF MU)
Osnovy výuky
1. Krystalografie a strukturní analýza
2. Teorie difrakce
3. Zdroje rentgenového záření
4. Metody práškové a monokrystalické
5. Návrh experimentů
6. Analýza pevných a práškových typů objektu
7. Strukturní analýza tenkých vrstev
8. SAXS
2. Teorie difrakce
3. Zdroje rentgenového záření
4. Metody práškové a monokrystalické
5. Návrh experimentů
6. Analýza pevných a práškových typů objektu
7. Strukturní analýza tenkých vrstev
8. SAXS
Základní literatura
B.Fultz, J.M.Howe, Transm. Electron Microscopy and Difractometry of Materials(Springer 2001)
C. Suryanarayana, M. G. Norton,X-Ray Diffraction (Springer 1998)
Y. Waseda, et. al., X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems, 2011
C. Suryanarayana, M. G. Norton,X-Ray Diffraction (Springer 1998)
Y. Waseda, et. al., X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems, 2011