Detail předmětu

Použití PC v měřicí technice

FEKT-KPMTAk. rok: 2014/2015

Předmět se zabývá programováním měřicích systémů a zařízení se zaměřením na virtuální instrumentaci. Studenti poznají užívané SW prostředky různých výrobců s důrazem na software firmy National Instruments (LabVIEW). Na uživatelské úrovni se naučí používat HW prostředky pro měření. Pozornost je věnována i systémům nezaložených na PC a systémům na bázi OS reálného času. V rámci cvičení mohou studenti získat (po vykonání zvláštní zkoušky) mezinárodně uznávanou certifikaci NI Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD).

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

6

Výsledky učení předmětu

Absolvent předmětu je schopen vybrat vhodný programový systém pro tvorbu softwarového vybavení měřicího přístroje nebo měřicího systému, vybrat vhodný hardware a systém realizovat. Je schopen zvolit vhodný vývojový prostředek. Umí pracovat i s pomocnými programy (MAX).

Prerekvizity

Student, který si zapíše předmět, by měl být schopen vysvětlit používané metody měření elektrických a neelektrických veličin, popsat základní vlastnosti analogových a digitálních měřicích přístrojů a diskutovat možnosti jejich použití včetně výběru vhodného snímače pro měření. Tomu odpovídá požadavek na získání hodnocení nejhůře C z předmětů Měření v elektrotechnice (BMVE) a Měření fyzikálních veličin (BMFV) v 2. ročníku bakalářského studia. Student by měl být také schopen samostatné přípravy z dostupných interaktivních studijních materiálů a disponoval takovými jazykovými znalostmi, aby porozuměl studijním materiálům i v anglickém jazyce.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování zahrnují přednášky a cvičení na počítači.

Způsob a kritéria hodnocení

Až 40 bodů za počítačová cvičení, kde student může získat až 15 bodů za každý ze dvou písemných testů a až 10 bodů z jedné samostatné úlohy.
Až 60 bodů za písemnou zkoušku.

Osnovy výuky

1. Úvod, obsah předmětu. Dělení používaného software, úvod do LabVIEW.
2. Periferie a způsoby získání dat o měřeném objektu (měřicí karty, RSxxx, GPIB, VXI).
3. Základní pojmy a ovládání prostředí LabVIEW.
4. Ladicí prostředky a řešení problémů v LabVIEW.
5. Tvorba VI v LabVIEW, řídicí struktury.
6. Práce s daty v LabVIEW (pole, struktury, typové definice).
7. Správa prostředků v LabVIEW (soubory dat, sběr dat NI-DAQ, přístrojové ovladače).
8. Tvorba modulárních aplikací v LabVIEW.
9. Programovací techniky pro LabVIEW.
10. Užití proměnných v LabVIEW.
11. LabVIEW nadstavby, příklady aplikací.
12. LabVIEW RealTime, FPGA modul, distribuované aplikace.

Učební cíle

Cílem předmětu je poskytnout orientaci v programových systémech pro tvorbu měřicích aplikací, základní orientaci o měřicích periferiích pro PC a naučit se pracovat se systémem LabVIEW.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Povinná účast na cvičeních, v případě neúčasti je možno doplnit zameškanou látku samostatným studiem z interaktivních studijních materiálů. Tolerují se dvě omluvené neúčasti.

Doporučená literatura

Firemní literatura National Instruments a Agilent. (EN)
VLACH, J. Začínáme s LabVIEW. BEN technická literatura, Praha 2008. (CS)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program EEKR-BK bakalářský

    obor BK-AMT , 3 ročník, zimní semestr, volitelný oborový

  • Program EEKR-CZV celoživotní vzdělávání (není studentem)

    obor ET-CZV , 1 ročník, zimní semestr, volitelný oborový

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Cvičení na počítači

26 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Laboratorní cvičení

13 hod., povinná

Vyučující / Lektor