Detail předmětu

Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie

FSI-TM0Ak. rok: 2016/2017

Předmět se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

2

Garant předmětu

Ing. Tomáš Vystavěl

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Výsledky učení předmětu

Prohloubení znalostí o konstrukci elektronového mikroskopu a funkci jednotlivých jeho částí.

Prerekvizity

Znalosti elektromagnetismu na úrovni učebnice HALLIDAY, D. - RESNICK, R. - WALKER, J.: Fyzika, VUTIUM, Brno 2001.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

přednášky + praktická lekce

Způsob a kritéria hodnocení

Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.

Učební cíle

Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Účast na přednáškách.

Základní literatura

GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy :physics of image formation and microanalysis. Berlin, 1985. 457 s. ISBN 3-540-13530-8
REIMER, Ludwig. Transmission Electron Microscopy :Physics of Image Formation and Microanalysis. 3. ed. Berlin, 1993. 545 s. ISBN 3-540-56849-2

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-P magisterský navazující

    obor M-PMO , 1 ročník, letní semestr, volitelný (nepovinný)
    obor M-PMO , 2 ročník, letní semestr, volitelný (nepovinný)
    obor M-FIN , 1 ročník, letní semestr, volitelný (nepovinný)
    obor M-FIN , 2 ročník, letní semestr, volitelný (nepovinný)

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Ing. Tomáš Vystavěl

Osnova

Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
2. Použití elektronové mikroskopie
3. Elektronová a iontová optika
4. Elektronové a iontové zdroje
5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
7. Vakuový systém
8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
9. Speciální stolky preparátu
10. Mikroskop jako systém
11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
13. Mikroskop jako laboratoř
14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
15. Praktická ukázka