Detail předmětu

Principy syntézy testovatelných obvodů

FIT-PTDAk. rok: 2017/2018

Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory).

 

Okruhy otázek k SDZ:

1. Vývoj principů testování číslicových systémů.

2. Pojem řiditelnost / pozorovatelnost.

3. Metoda testovacích bodů - výhody / nevýhody.  

4. Přehled metod scan.

5. Rozdíl mezi sériovými a paralelními metodami - výhody / nevýhody.

6. Metoda LSSD.

7. Metoda RAS / ARAS.

8. Metody částečný scan v. úplný scan.

9. Metoda Boundary scan.

10. Principy autonomního testování, uplatnění hierarchie.

11. Možnosti realizace autonomního testování, at-speed testing.

 

 

Jazyk výuky

čeština

Garant předmětu

doc. Ing. Zdeněk Kotásek, CSc.

Zajišťuje ústav

Ústav počítačových systémů (UPSY)

Výsledky učení předmětu

Předmět nemá znalosti.

Prerekvizity

Nejsou žádné prerekvizity.

Způsob a kritéria hodnocení

Hodnocení studia je založeno na bodovacím systému. Pro úspěšné absolvování předmětu je nutno dosáhnout 50 bodů.

Osnovy výuky

    Osnova přednášek:
    • Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
    • Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
    • Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
    • Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
    • Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
    • Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
    • Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
    • Principy autonomního testování číslicových obvodů.
    • Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
    • Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
    • Techniky CSTP, BILBO.
    • Konstrukce obvodů pro on-line testování
    • Metoda Boundary Scan. Testování spojů.

Učební cíle

Předmět nemá cíle.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Výuka není kontrolována.

Základní literatura

M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program VTI-DR-4 doktorský

    obor DVI4 , 0 ročník, zimní semestr, volitelný