Detail předmětu
Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie
FSI-TM0Ak. rok: 2019/2020
Předmět se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Základní literatura
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy :physics of image formation and microanalysis. Berlin, 1985. 457 s. ISBN 3-540-13530-8
REIMER, Ludwig. Transmission Electron Microscopy :Physics of Image Formation and Microanalysis. 3. ed. Berlin, 1993. 545 s. ISBN 3-540-56849-2
Zařazení předmětu ve studijních plánech
- Program M2A-P magisterský navazující
obor M-PMO , 1 ročník, letní semestr, volitelný (nepovinný)
obor M-PMO , 2 ročník, letní semestr, volitelný (nepovinný) - Program N-FIN-P magisterský navazující 1 ročník, letní semestr, volitelný
- Program M2A-P magisterský navazující
obor M-FIN , 2 ročník, letní semestr, volitelný (nepovinný)
Typ (způsob) výuky
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova
1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
2. Použití elektronové mikroskopie
3. Elektronová a iontová optika
4. Elektronové a iontové zdroje
5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
7. Vakuový systém
8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
9. Speciální stolky preparátu
10. Mikroskop jako systém
11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
13. Mikroskop jako laboratoř
14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
15. Praktická ukázka