Detail předmětu
Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie
FSI-TM0Ak. rok: 2020/2021
Předmět se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
2
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prohloubení znalostí o konstrukci elektronového mikroskopu a funkci jednotlivých jeho částí.
Prerekvizity
Znalosti elektromagnetismu na úrovni učebnice HALLIDAY, D. - RESNICK, R. - WALKER, J.: Fyzika, VUTIUM, Brno 2001.
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
přednášky + praktická lekce
Způsob a kritéria hodnocení
Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
Učební cíle
Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Účast na přednáškách.
Základní literatura
GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy :physics of image formation and microanalysis. Berlin, 1985. 457 s. ISBN 3-540-13530-8
REIMER, Ludwig. Transmission Electron Microscopy :Physics of Image Formation and Microanalysis. 3. ed. Berlin, 1993. 545 s. ISBN 3-540-56849-2
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy :physics of image formation and microanalysis. Berlin, 1985. 457 s. ISBN 3-540-13530-8
REIMER, Ludwig. Transmission Electron Microscopy :Physics of Image Formation and Microanalysis. 3. ed. Berlin, 1993. 545 s. ISBN 3-540-56849-2
Zařazení předmětu ve studijních plánech
Typ (způsob) výuky
Přednáška
26 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
2. Použití elektronové mikroskopie
3. Elektronová a iontová optika
4. Elektronové a iontové zdroje
5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
7. Vakuový systém
8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
9. Speciální stolky preparátu
10. Mikroskop jako systém
11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
13. Mikroskop jako laboratoř
14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
15. Praktická ukázka
1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
2. Použití elektronové mikroskopie
3. Elektronová a iontová optika
4. Elektronové a iontové zdroje
5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
7. Vakuový systém
8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
9. Speciální stolky preparátu
10. Mikroskop jako systém
11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
13. Mikroskop jako laboratoř
14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
15. Praktická ukázka