Detail předmětu

Instrumentální a strukturní analýza II

FCH-MC_ISA2Ak. rok: 2021/2022

Studenti budou seznámeni s teoretickými základy, instrumentací a aplikací metod chemické, fyzikální a strukturní analýzy. Budou probírány elektronová paramagnetická resonance, časově rozlišená fluorescence, PIXE, neutronová aktivační analýza, kalorimetrie, porozimetrie a cirkulární dichroismus. Součástí předmětu jsou i pokročilé metody elektronové a optické mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. Zařazena je také nukleární magnetická resonance s důrazem na aplikace a řešení daného analytické problému. Předmět je doplněn o techniky hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů a hmotnostní spektrometrie s termální ionizací, a také laserovými technikami včetně teoretického základu laseru.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

4

Způsob a kritéria hodnocení

Písemná forma zkoušky. Podmínkou absolvování je zodpovězení alespoň 50% otázek.

Osnovy výuky

1. Časově rozlišená fluorescence
2. PIXE
3. Neutronová aktivační analýza
4. Kalorimetrie
5. Optická mikroskopie
6. Elektronová mikroskopie
7. Mikroskopie atomárních sil
8. Porozimetrie, cirkulární dichroismus
9. Elektronová paramagnetická resonance
10. Nukleární magnetická resonance
11. Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů, hmotnostní spektrometrie s termální ionizací
12. Laserové techniky
13. Laserové techniky

Učební cíle

Cílem předmětu je seznámit studenty s pokročilými metodami strukturní analýzy. Kladen je důraz na prohloubení znalostí vybraných metod a zároveň rozšíření přehledu metod využívaných v oblasti strukturní a povrchové analýzy.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Účast na přednáškách není povinná pouze doporučená.

Základní literatura

K. Záruba a kol.: Analytická chemie (2. díl), Praha: VŠCHT, 2016. ISBN 978-80-7080-951-8 (CS)
L. Eckertová, L. Frank: Metody analýzy povrchů: elektronová mikroskopie a difrakce, Praha: Academia 1996. ISBN 80-200-0329-0 (CS)
L. Eckertová: Metody analýzy povrchů: elektronová spektroskopie, Praha: Academia 1990. ISBN 80-200-0261-8 (CS)
L. Frank, J. Král: Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody, Praha: Academia 2002. ISBN 80-200-0594-3 (CS)
M. Vůjtek, R. Kubínek, M. Mašláň, Nanoskopie, Univerzita Palackého v Olomouci, 2012. (CS)
NMR Spectroscopy: Basic Principles, Concepts and Applications in Chemistry 3rd Edition, 2013, Harald Günther (EN)
Satinder Ahuja Neil Jespersen, Comprehensive analytical chemistry V47, Modern Instrumental Analysis, Elsevier Science, 2006. (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program NPCP_CHTM magisterský navazující 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
  • Program NPCP_ECHT magisterský navazující 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
  • Program NKCP_CHTM magisterský navazující 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program NKCP_ECHT magisterský navazující

    specializace --- , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Konzultace v kombinovaném studiu

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor