čeština

Po absolvování uvedeného kursu by studenti měli umět rozlišit jednotlivé typy transportních procesů, rozumět fyzikálním mechanismům fluktuačních procesů a nadbytečného transportu nosičů. Dále by měli mít přehled o základních diagnostických metodách a měli by umět pro studium konkrétního problému zvolit a použít vhodné diagnostické techniky. Na základě těchto nástrojů by studenti měli umět navrhovat a vyvíjet diagnostické metody pro jednotlivé konkrétní aplikace.

VŠ studium v elektrotechnických, materiálových, fyzikálních a chemických oborech ukončené získáním titulu Ing. nebo ekvivalentním způsobem.

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

0-20 b projekt
0-80 b závěrečná zkouška

1. Struktura pevných látek, jejich popis, klasifikace, poruchy.
2. Transportní procesy v pevných látkách, generace a rekombinace.
3. Fluktuační procesy v látkách.
4. Šumová diagnostika.
5. Částečné výboje v izolantech, akustická a elektromagnetická emise.
6. Dielektrická relaxační spektroskopie.
7. Světelná mikroskopie. Optická mikroskopie, konfokální mikroskopie, fluorescenční mikroskopie, infračervená mikroskopie.
8. Elektronová mikroskopie. Transmisní elektronová mikroskopie, skenovací elektronová mikroskopie, detekce rentgenového záření (EDS, WDS), modifikace povrchu (FIB, GIS), enviromentální skenovací elektronová mikroskopie.
9. Mikroskopie skenující sondou. Mikroskopie atomárních sil, skenující tunelovací mikroskopie, rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli.
10. Infračervená spektroskopie, Ramanova spektroskopie, spektroskopie laserem buzeného plazmatu.
11. Infračervená termografie, luminiscence (fotoluminiscence, elektroluminiscence, termoluminiscence).
12. Rentgenová difrakční analýza, neutronová difrakce.
13. Počítačová rentgenová tomografie, jaderná magnetická rezonance.

Cílem předmětu je popis a analýza transportních, relaxačních a stochastických mechanismů v pevných látkách. Studenti se seznámí ze základními metodami studia těchto procesů a se základmíni metodami jejich měření. Obsahem semináře však není ani tak pouhé získání znalostí, jako spíše hlubší porozumění fyzikální podstatě vybraných metod a získání schopnosti prakticky tyto metody používat a dále je rozvíjet na vyšším stupni.

Frank, H.: Fyzika a technika polovodičů. SNTL, 1990. (CS)
Kittel, Ch.: Introduction to Solid State Physics. 7th ed. Wiley, 1996. (EN)
Leng, Y.: Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods. Wiley, 2009, ISBN 978-0-470-82299-9. (EN)
Réfrégier, P.: Noise Theory and Application to Physics. From Fluctuations to Information. Springer, 2004. (EN)
Sze, S.M., NG, Kwok, K. Physics of Semiconductor Devices. 3rd edittion, Wiley, 2006. (EN)
Workman, J., Springsteen, A.: Applied Spectroscopy – A Compact Reference for Practitioners, Elsevier Inc., 1998, ISBN 978-0-12-764070-9. (EN)