čeština

Pochopení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty měřicích metod, senzorů a funkce meřicích zařízení.

Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II a Metrologická fyzika.

Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny.

Zkouška skládající se z ústní a písemné části.

Vyložit fyzikální principy vybraných měřicích metod a činnosti meřicích přístrojů a zařízení.

Účast na všech prvcích výuky.

BOX, G.E.P., HUNTER, W.G., HUNTER, J.S. Statistics for Experiments-an Introduction to Design, Data Analysis and Model Building, Wiley 1978 (EN)
DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990. (EN)
Normy: Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii.. ČSN 01 0115
ORNATSKIJ, P.P.: Teoretičeskije osnovy informacionno-izměritělnoj techniki. Kijev: Vyšča škola, 1976.
REIMER, L, Scanning Electron Microscopy (2nd ed.), Springer,1998 (EN)
RIPKA, P.; TIPEK, A. Master Book of Sensors, part A, part B, Czech Technical University, 2003 (EN)
WIESENDAGER. R., GUNTHERODT. J.H.: Scanning Tuneling Microscopy II, Springer 1995 (EN)
WILIAMS, D. B., CARTER, C. B. Transmission Electron Microscopy (2nd ed.), Springer, 2009 (EN)

DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990. (EN)
JENČÍK, J., KUHN, L. a další: Technická měření ve strojírenství.. Praha: SNTL, 1982.
Normy: Vyjadřování nejistoty při měření.