Detail předmětu
Radioelektronická měření
FEKT-MKC-REMAk. rok: 2022/2023
Definice základních chyb měření, jejich statistické vyhodnocení. Prvky automatizace měření, základní principy jednotlivých programů. Přesná měření, definice stálosti parametrů. Moderní vysokofrekvenční měřicí technika. Skalární a vektorová měření. Měření impedance.
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
5
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Absolvent předmětu je schopen: (a) používat základní měřicí metod; (b) analyzovat naměřená dat; (c) navrhnout moderní automatizovaný měřicí systém; (d) realizovat ovládací program v prostředí LabView a Matlab.
Prerekvizity
Jsou požadovány znalosti na úrovni bakalářského studia. Práce v laboratoři je podmíněna platnou kvalifikací „osoby znalé pro samostatnou činnost“, kterou musí studenti získat před zahájením výuky. Informace k této kvalifikaci jsou uvedeny ve Směrnici děkana Seznámení studentů s bezpečnostními předpisy.
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Metody vyučování zahrnují přednášky a laboratorní cvičení.
Způsob a kritéria hodnocení
Předmět Radioelektronická měření je hodnocen následujícím způsobem:
Pro získání zápočtu je nutné odměřit 1 laboratorní úlohu a odevzdat 7 domácích úloh. Laboratorní výuka je hodnocena v průběhu semestru a lze za ni získat max. 16 bodů. Za správné vypracování domácích úloh lze získat max. 14 bodů.
Závěrečná zkouška se skládá ze dvou částí (písemné a ústní) a je celkově hodnocena 70 body. Pro úspěšné zvládnutí zkoušky je třeba dosáhnout minimálního bodového hodnocení 35 bodů ze 70 možných.
Osnovy výuky
1. Definice chyb měření a jejich základní vyhodnocení. Zásady správného měření.
2. Automatizovaná měřicí pracoviště.
3. Základní práce v prostředí LabVIEW.
4. Základní osciloskopická měření.
5. Měření kmitočtu.
6. Spektrální měření.
7. Skalární měření na skalárních analyzátorech.
8. Vektorová měření.
9. Měření impedance.
10. Akviziční jednotky pro sběr dat.
11. Generátory testovacích signálů.
12. Nepřímá měření.
13. Univerzální měřicí přístroje.
2. Automatizovaná měřicí pracoviště.
3. Základní práce v prostředí LabVIEW.
4. Základní osciloskopická měření.
5. Měření kmitočtu.
6. Spektrální měření.
7. Skalární měření na skalárních analyzátorech.
8. Vektorová měření.
9. Měření impedance.
10. Akviziční jednotky pro sběr dat.
11. Generátory testovacích signálů.
12. Nepřímá měření.
13. Univerzální měřicí přístroje.
Učební cíle
Seznámit studenty s principy základních měřicích metod používaných při měřeních ve vysokofrekvenční technice. Seznámit studenty s využitím různých programových prostředí vhodných pro tvorbu automatizovaných měřicích systémů.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění stanoví každoročně aktualizovaná vyhláška garanta předmětu.
Základní literatura
ĎAĎO, S., VEDRAL, J., Číslicové měření, přístroje a metody, ČVUT Praha, 2006. (CS)
HAASZ, V., ROZTOČIL, J., NOVÁK, J., Číslicové měřicí systémy, ČVUT Praha 2000. (CS)
HAASZ, V., ROZTOČIL, J., NOVÁK, J., Číslicové měřicí systémy, ČVUT Praha 2000. (CS)
Elearning
eLearning: aktuální otevřený kurz
Zařazení předmětu ve studijních plánech
- Program MKC-EKT magisterský navazující 1 ročník, letní semestr, povinný
Typ (způsob) výuky
Přednáška
26 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Definice chyb měření a jejich základní vyhodnocení. Zásady správného měření.
Automatizovaná měřicí pracoviště.
Agilent VEE.
Základní osciloskopická měření.
Měření kmitočtu.
Spektrální měření.
Skalární měření na skalárních analyzátorech.
Vektorová měření.
Měření impedance.
Speciální měření (six-port, …).
Měřicí postupy pro měření rušení.
Měřicí karty pro PC.
Automatizovaná měřicí pracoviště.
Agilent VEE.
Základní osciloskopická měření.
Měření kmitočtu.
Spektrální měření.
Skalární měření na skalárních analyzátorech.
Vektorová měření.
Měření impedance.
Speciální měření (six-port, …).
Měřicí postupy pro měření rušení.
Měřicí karty pro PC.
Laboratorní cvičení
39 hod., povinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Seznámení s grafickým programovým prostředím Agilent VEE.
Porovnání vlastností spektrálního analyzátoru a měřicího přijímače, měření kmitočtových charakteristik.
Měření na skalárním analyzátoru.
Demodulace QPSK.
Přesná měření, měření stálosti parametrů.
Základní měření na osciloskopu.
Měření na základní PC kartě.
Porovnání vlastností spektrálního analyzátoru a měřicího přijímače, měření kmitočtových charakteristik.
Měření na skalárním analyzátoru.
Demodulace QPSK.
Přesná měření, měření stálosti parametrů.
Základní měření na osciloskopu.
Měření na základní PC kartě.
Elearning
eLearning: aktuální otevřený kurz