angličtina

Pouze domovské fakulty

Po absolvování uvedeného kursu by studenti měli umět rozlišit jednotlivé typy transportních procesů, rozumět fyzikálním mechanismům fluktuačních procesů a nadbytečného transportu nosičů. Dále by měli mít přehled o základních diagnostických metodách a měli by umět pro studium konkrétního problému zvolit a použít vhodné diagnostické techniky. Na základě těchto nástrojů by studenti měli umět navrhovat a vyvíjet diagnostické metody pro jednotlivé konkrétní aplikace.

VŠ studium v elektrotechnických, materiálových, fyzikálních a chemických oborech ukončené získáním titulu Ing. nebo ekvivalentním způsobem.

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

0-20 b projekt
0-80 b závěrečná zkouška

1. Structure of solids, their description, classification, failure.
2. Transport processes in solids, generation and recombination.
3. Fluctuation processes.
4. Noise diagnostics.
5. Partial discharges in insulators, Acoustic emission, Electromagnetic emission.
6. Dielectric relaxation spectroscopy (DRS).
7. Light microscopy. Optical microscopy, Confocal microscopy, Fluorescence microscopy, Infrared microscopy.
8. Electron microscopy. Transmission electron microscopy, Scanning electron microscopy, X-ray detection (EDS, WDS), surface modification (FIB, GIS), Environmental scanning electron microscopy.
9. Scanning probe microscopy. Atomic force microscopy, Scanning tunneling microscopy, Near-field scanning optical microscopy.
10. Infrared spectroscopy, Raman spectroscopy, Laser-induced breakdown spectroscopy.
11. Infrared thermography, Luminescence (Photoluminescence, Electroluminescence, Thermoluminescence).
12. X-ray diffraction analysis, Neutron diffraction.
13. X-ray computed tomography, Nuclear magnetic resonance.

Cílem předmětu je popis a analýza transportních, relaxačních a stochastických mechanismů v pevných látkách. Studenti se seznámí ze základními metodami studia těchto procesů a se základmíni metodami jejich měření. Obsahem semináře však není ani tak pouhé získání znalostí, jako spíše hlubší porozumění fyzikální podstatě vybraných metod a získání schopnosti prakticky tyto metody používat a dále je rozvíjet na vyšším stupni.

Kittel, Ch.: Introduction to Solid State Physics. 7th ed. Wiley, 1996. (EN)
Leng, Y.: Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods. Wiley, 2009, ISBN 978-0-470-82299-9. (EN)
Réfrégier, P.: Noise Theory and Application to Physics. From Fluctuations to Information. Springer, 2004. (EN)
Sze, S.M., NG, Kwok, K. Physics of Semiconductor Devices. 3rd edittion, Wiley, 2006. (EN)
Workman, J., Springsteen, A.: Applied Spectroscopy – A Compact Reference for Practitioners, Elsevier Inc., 1998, ISBN 978-0-12-764070-9. (EN)