Detail předmětu

Metrologie legální a průmyslová

FSI-9MLVAk. rok: 2023/2024

Předmět je zaměřen na zvládnutí metrologie v průmyslových podnicích s důrazem na funkční kontrolu výrobků a organizačně technické řešení kontrolních procesů. Studenti se seznámí s principy kalibrace a ověřování různých druhů měřidel. Studenti rovněž pochopí pravidla měření rozměrů průmyslových výrobků, měření odchylek tvaru a polohy a hodnocení textury funkčních povrchů. Studenti zvládnou formulaci požadavků na měřidla v konkrétních aplikacích a kritéria hodnocení činností zkušebních laboratoří v průmyslu.

Jazyk výuky

čeština

Vstupní znalosti

Předpokládají se znalosti ze základů metrologie, strojírenské technologií a materiálů, dále znalosti fyziky a aplikované statistiky.

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Zkouška z oblasti problematiky dle osnovy a její aplikace v dané semestrální práci.
Předmět je realizován formou přednášek a konzultací, je kontrolovaná účast.

Učební cíle

Cílem předmětu „Metrologie legální a průmyslová“ je získání teoretických a praktických znalostí z oblasti legální a průmyslové metrologie tak, aby byli doktorandi schopni samostatně řešit konkrétní vědecké úkoly v této oblasti.
Student získá ve smyslu uvedené anotace rozsáhlé a komplexní znalosti z oblasti legální a průmyslové metrologie, které mu umožní se v průmyslové praxi erudovaně zapojit do řešení různých souvisejících problémů.

Základní literatura

Balasubramanian Muralikrishnan and Jayaraman Raja. Computational Surface and Roundness Metrology. Berlin: Springer, 2009. ISBN: 978-1-84800-296-8. (EN)
BUCHER, Jay L., ed. The Metrology Handbook. 2nd ed. Milwauke, Wis: ASQ Quality Press, 2012. ISBN 978-087-3898-386. (EN)
DRBÚL, M., ŠAJGALÍK, M. a kol. Strojárska metrológia a kvalita povrchov vytvorených technológiami obrábania. Žilina: Žilinská univerzita v Žiline, 2014. ITMS 22410320051. (SK)
LEACH, R., ed. Optical measurement of surface topography. Berlin: Springer, 2011. ISBN 978-364-2120-114. (EN)
SŁADEK, Jerzy A. Coordinate metrology: accuracy of systems and measurements. Heidelberg: Springer, 2016. ISBN 978-3-662-48463-0. (EN)
WHITEHOUSE, D. J. Handbook of surface and nanometrology. 2nd ed. Boca Raton: CRC Press, 2011. ISBN 978-1-4200-8201-2. (EN)

Doporučená literatura

CZICHOS, H., SAITO, T. a SMITH, L. E., ed. Springer handbook of metrology and testing. 2nd ed. Berlin: Springer, 2011. ISBN 978-3642166402. (EN)
FARAGO, F. T. a CURTIS, M.A., Handbook of dimensional measurement. 3. ed., 1. print. New York, NY: Industrial Press, 1994. ISBN 08-311-3053-9. (EN)
1. WHITEHOUSE, David. Surfaces and their measurement. [Online-Ausg.]. London: HPS, 2002. ISBN 978-190-3996-010. (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program D-KPI-P doktorský 1 ročník, zimní semestr, doporučený kurs
  • Program D-KPI-K doktorský 1 ročník, zimní semestr, doporučený kurs

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

20 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1. Principy metrologie
2. Statistické nástroje v metrologii
3. Kalibrace měřidel
4. Ověřování měřidel
5. Funkční kontrola výrobků
6. Měření rozměrů a vzdálenosti v systému ISO GPS
7. Měření parametrů geometrických tolerancí v systému ISO GPS
8. Textura povrchu
9. Speciální měřidla v průmyslu
10. Zkušební laboratoře v průmyslu