Detail předmětu

Preparation and Properties of Thin Layers of Materials

FCH-DA_PTVAk. rok: 2023/2024

Terminology; fundamentals of vacuum science; introduction to plasma physics and chemistry; film deposition techniques: vacuum evaporation, sputtering, plasma polymerization, mass spektrometry, laser-enhanced CVD, CVD processes; thin film characterization: film growth, film thickness and deposition rate, scanning probe microscopy (STM, AFM, EFM, MFM, SNOM), mechanical properties (measurement techniques, internal stress, adhesion), spectroscopic ellipsometry and analytical methods (XPS, RBS, ERDA, FTIR).

Jazyk výuky

angličtina

Zajišťuje ústav

Základní literatura

D. Hoffman, B. Singh, J.H. Thomas, Handbook of Vacuum Science and Technology, Academic Press 1998. (EN)
H. Bubert, H. Jenett, Surface and Thin Film Analysis, Wiley-VCH, 2002 (EN)
M. Ohring, Materials Science of Thin Films, Academic Press 2002. (EN)
V. L. Mironov, Fundamentals of Scanning Probe Microscopy, NT-MDT 2004. (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program DPAP_CHM_4_N doktorský 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
  • Program DKAP_CHM_4_N doktorský 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný