Detail předmětu
Teorie měření, měřicí techniky a technické diagnostiky
ÚSI-DSNB08Ak. rok: 2023/2024
Obsahem předmětu je zavedení základních metrologických pojmů a vysvětlení jejich obsahu: fyzikální veličina, měření, signál, klasifikace měření, základní postupy měření, prostředky měření, algoritmy zpracování hodnot měřené veličiny, přesnost a chyba měření, výsledek a nejistota měření. Měřicí metody a moderní metody zobrazování.
Jazyk výuky
čeština
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Vstupní znalosti
Znalost a aktivní aplikace pojmů z matematiky a fyziky na úrovni základních kurzů technických studijních programů.
Pravidla hodnocení a ukončení předmětu
Zkouška skládající se z ústní a písemné části.
Učební cíle
Vyložit fyzikální principy vybraných měřicích metod a činnosti měřicích přístrojů a zařízení, metodika zpracování výsledků měření.
Pochopení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty měřicích a zobrazovacích metod, senzorů a funkce měřicích zařízení.
Pochopení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty měřicích a zobrazovacích metod, senzorů a funkce měřicích zařízení.
Základní literatura
DOEBELIN, O.D. Measurement Systems. Application and Design. New York: McGraw-Hill, 1990.
JENČÍK, J., KUHN, L. a kol. Technická měření ve strojírenství. Praha: SNTL, 1982.
Normy: Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii.. ČSN 01 0115
Normy: Vyjadřování nejistoty při měření.
JENČÍK, J., KUHN, L. a kol. Technická měření ve strojírenství. Praha: SNTL, 1982.
Normy: Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii.. ČSN 01 0115
Normy: Vyjadřování nejistoty při měření.
Doporučená literatura
HALLIDAY, D., RESNICK, R., WALKER, J. Fyzika. VUTIUM, 2014.
SERWAY, R.A., BEICHNER, R.J. Physics for Scientist and Engineers with Modern Physics. 5. vydání. Orlando: Saunders College Publisching, 2000. 1551 s.
SERWAY, R.A., BEICHNER, R.J. Physics for Scientist and Engineers with Modern Physics. 5. vydání. Orlando: Saunders College Publisching, 2000. 1551 s.
Elearning
eLearning: aktuální otevřený kurz
Zařazení předmětu ve studijních plánech
Typ (způsob) výuky
Přednáška
12 hod., nepovinná
Vyučující / Lektor
Osnova
1. Metrologie a její fyzikální základ.
2. Základní a odvozené jednotky.
3. Měřené signály a jejich charakteristiky: obecné vlastnosti signálů a jejich parametrů, náhodné signály a jejich charakteristiky, signály zatížené chybami.
4. Transformace signálů: obecné pojmy transformace signálů, kvantování signálů, diskretizace signálů.
5. Analýza přesnosti měření.
6. Klasifikace chyb měření: náhodné chyby, systematické chyby; metody snížení systematické složky chyby měření, nejistota měření.
7. Metody zpracování výsledků přímých měření. Metody zpracování výsledků nepřímých měření.
8. Základní charakteristiky měřicích prostředků. Analogové a digitální přístroje.
9. Senzory: základní typy senzorů a fyzikální principy jejich činnosti.
10. Metody zvyšování přesnosti měřicích přístrojů.
11. Diagnostické metody (výběr). Ultrazvukové metody. Rentgenové metody. Radiační metody. Tomografie.
12. Pokročilé metody zobrazování v defektoskopii: elektronová mikroskopie, rastrovací sondové mikroskopie.
13. Rekapitulace základních pojmů.
2. Základní a odvozené jednotky.
3. Měřené signály a jejich charakteristiky: obecné vlastnosti signálů a jejich parametrů, náhodné signály a jejich charakteristiky, signály zatížené chybami.
4. Transformace signálů: obecné pojmy transformace signálů, kvantování signálů, diskretizace signálů.
5. Analýza přesnosti měření.
6. Klasifikace chyb měření: náhodné chyby, systematické chyby; metody snížení systematické složky chyby měření, nejistota měření.
7. Metody zpracování výsledků přímých měření. Metody zpracování výsledků nepřímých měření.
8. Základní charakteristiky měřicích prostředků. Analogové a digitální přístroje.
9. Senzory: základní typy senzorů a fyzikální principy jejich činnosti.
10. Metody zvyšování přesnosti měřicích přístrojů.
11. Diagnostické metody (výběr). Ultrazvukové metody. Rentgenové metody. Radiační metody. Tomografie.
12. Pokročilé metody zobrazování v defektoskopii: elektronová mikroskopie, rastrovací sondové mikroskopie.
13. Rekapitulace základních pojmů.
Elearning
eLearning: aktuální otevřený kurz