Detail předmětu

Metody rentgenové strukturní analýzy

CEITEC VUT-DS206Ak. rok: 2023/2024

Jazyk výuky

čeština

Zajišťuje ústav

Přírodovědecká fakulta (PřF MU)

Základní literatura

C. Suryanarayana, M. G. Norton,X-Ray Diffraction (Springer 1998)
Y. Waseda, et. al., X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems, 2011
B.Fultz, J.M.Howe, Transm. Electron Microscopy and Difractometry of Materials(Springer 2001)